【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种测试设备及其通讯装置,通讯装置的一端通过上位机与测试仪相连,另一端与耦接待检测芯片的探针台或机械手相连,实现所述上位机与所述探针台或机械手之间的交互通讯,包括:接口检测电路,与所述探针台或机械手相连;驱动增强电路,与所述接口检测电路连接;光耦隔离电路,与所述驱动增强电路连接;电平转换电路,与所述光耦隔离电路连接;信号处理芯片,与所述电平转换电路连接,具有多个I/O口,接收所述测试交互信号,通过一串口收发电路与所述上位机连接以交互所述测试交互信号。通过本装置可以很方便的进行多SIZE连接测试,解决了测试仪自身通信接口不足的问题,从而使测试仪的使用效率得到提高,提高单位时间内测试的数量,节约成本。【专利说明】测试设备及其通讯装置
本技术涉及产品测试技术,特别是涉及一种测试设备及其通讯装置。
技术介绍
在芯片测试仪的实际生产使用过程中,需要与探针台或机械手进行单单元(SIZE)或多单元通讯连接才能完成芯片的测试生产。 传统的通讯连接都是直接连接或使用中转电脑进行转接,这种连接方法存在一些不足:1.在芯片测试项目较少但需要测试单元 ...
【技术保护点】
一种测试设备的通讯装置,一端通过上位机与测试仪相连,另一端与耦接待检测芯片的探针台或机械手相连,实现所述上位机与所述探针台或机械手之间的交互通讯,其特征在于,包括:接口检测电路,与所述探针台或机械手相连,接收测试交互信号,检测接入的单元个数并确定是串行还是并行通讯;驱动增强电路,与所述接口检测电路连接,增强所述测试交互信号的驱动能力;光耦隔离电路,与所述驱动增强电路连接,对所述测试交互信号进行信号隔离;电平转换电路,与所述光耦隔离电路连接,对所述测试交互信号进行电平转换;信号处理芯片,与所述电平转换电路连接,具有多个I/O口,接收所述测试交互信号,通过一串口收发电路与所述上 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:方盼,苏绩,
申请(专利权)人:深圳安博电子有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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