灯具内部元件的温升测试方法技术

一种灯具内部元件的温升测试方法，包括以下步骤：在灯具内部元件上接热电偶，并在灯具表面铺上粉尘；将灯具按照向下的照射方式安装于温升测试架上；将灯具接入电源，并使灯具在额定温度下工作至达到测试时间，在灯具工作中，分不同时间段测量灯具内部元件的温度及电压，并记录；检测经过温度测试的灯具内部元件是否正常，并记录检测结果。在灯具表面铺上粉尘使得灯具散热性变差，因此对灯具内部元件在灯具工作的状态下进行工作温度测试及温升测试后，能够检测出灯具内部元件在灯具散热性变差时，灯具内部元件是否正常。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种，包括以下步骤：在灯具内部元件上接热电偶，并在灯具表面铺上粉尘；将灯具按照向下的照射方式安装于温升测试架上；将灯具接入电源，并使灯具在额定温度下工作至达到测试时间，在灯具工作中，分不同时间段测量灯具内部元件的温度及电压，并记录；检测经过温度测试的灯具内部元件是否正常，并记录检测结果。在灯具表面铺上粉尘使得灯具散热性变差，因此对灯具内部元件在灯具工作的状态下进行工作温度测试及温升测试后，能够检测出灯具内部元件在灯具散热性变差时，灯具内部元件是否正常。【专利说明】
本专利技术涉及灯具测试技术，特别是涉及一种简单的。
技术介绍
随着照明灯具在各工业的广泛使用，对照明灯具的安全性要求是越来越高。在灯具生产时，灯具的安全性是产品最重要的标准。现有的灯具温升测试中，都是按照常规条件进行温升测试，没有考虑灯具的实际使用环境对灯具的影响，比如在粉尘环境大、电压波动范围大场合下，外界的粉尘环境能够直接影响灯具的壳体散热，工作电压升高直接增大灯具功率增加其发热量。因而外界因素影响至少会产生以下问题:灯具的壳体表面堆积粉尘导致壳体的热不能直接通过空气带走，从而使灯腔内热量加大各器件温度升高影响其寿命。或是输入电压升高导致灯具功率增大(因电感镇流器对电压的变化很敏感，会随着电压升高其输出功率也会随着增大)，从而使灯具整体发热量增大，在散热条件不变情况下导致各器件温度升高影响其寿命。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种能够检测灯具内部元件在灯具散热条件差时是否正常的。 一种，包括以下步骤: 在灯具内部元件上接热电偶，并在灯具表面铺上粉尘； 将灯具按照向下的照射方式安装于温升测试架上； 将灯具接入电源，并使灯具在额定温度下工作至达到测试时间，在灯具工作中，分不同时间段测量灯具内部元件的温度及电压，并记录； 检测经过温度测试的灯具内部元件是否正常，并记录检测结果。 在其中一个实施例中，所述灯具内部元件包括电感镇流器、电容、触发器、光源泡壳及非金属兀件。 在其中一个实施例中，所述在灯具内部元件上接热电偶的步骤具体为在所述灯具内部元件的表面各接一热电偶。 在其中一个实施例中，所述在灯具表面铺上粉尘的步骤具体为:在灯具表面铺上滑石粉。 在其中一个实施例中，所述灯具在额定温度下工作至达到测试时间的步骤包括: 开启变频电源点亮灯具，并使灯具连续工作至达到测试时间。 在其中一个实施例中，所述变频电源的输出电压为AC240V。 在其中一个实施例中，所述灯具在额定温度下工作至达到测试时间为11-13小时。 在其中一个实施例中，所述额定温度为190°C -210°C。 上述通过在灯具内部元件接热电偶并在灯具表面铺上粉尘，然后将灯具置于温升测试架上，让灯具在额定温度下工作至达到测试时间，并记录灯具内部元件的温度及电压，最后检测灯具内部元件是否正常。在灯具表面铺上粉尘使得灯具散热性变差，因此对灯具内部元件在灯具工作的状态下进行工作温度测试及温升测试后，能够检测出灯具内部元件在灯具散热性变差时，灯具内部元件是否正常。 【专利附图】【附图说明】 图1为的流程图。 【具体实施方式】 如图1所示，为的流程图。 一种，包括以下步骤: 步骤SI 10，在灯具内部元件上接热电偶，并在灯具表面铺上粉尘。 灯具内部元件包括电感镇流器、电容、触发器、光源泡壳及非金属元件。 灯具内部元件中的电感镇流器对电压变化很敏感，会随着电压升高其输出功率也会增大。从而使灯具整体发热量增大，在散热条件不变的情况下导致各器件温度升高。因此，在测试过程中会选择电感镇流器、电容、触发器、光源泡壳及非金属元件等。 在灯具内部元件上接热电偶的步骤具体为在所述灯具内部元件的表面各接一热电偶。 热电偶(thermocouple)是温度测量仪表中常用的测温元件，它直接测量温度，并把温度信号转换成热电动势信号，通过电气仪表(二次仪表)转换成被测介质的温度。各种热电偶的外形常因需要而极不相同，但是它们的基本结构却大致相同，通常由热电极、绝缘套保护管和接线盒等主要部分组成。 将热电偶与电感镇流器、电容、触发器、光源泡壳及非金属元件连接，用于测量灯具内部元件的温度。 在灯具表面铺上粉尘的步骤具体为:在灯具表面铺上滑石粉。灯具的壳体表面堆积粉尘会导致壳体的热不能直接通过空气带走，从而使灯具内部的热量增多，从而对灯具内部元件造成影响。本步骤的作用在于模拟灯具工作环境散热性差，长期使用粉尘堆积较多的状态。 步骤S120，将灯具按照向下的照射方式安装于温升测试架上。具体地，灯具按照竖直向下的照射方式安装于温升测试架上。 根据市场调研各种安装方式，采用竖直向下的照射方式安装是最容易堆积粉尘的一种方式，因此，为了达到测试的最佳质量，优选地采用竖直向下的照射方式安装。 步骤S120是为灯具的温升测试作准备。 步骤S130，将灯具接入电源，并使灯具在额定温度下工作至达到测试时间，在灯具工作中，分不同时间段测量灯具内部元件的温度及电压，并记录。 灯具在额定温度下工作至达到测试时间的步骤包括: 开启变频电源点亮灯具，并使灯具连续工作至达到测试时间。 变频电源的输出电压为AC240V。灯具在额定温度下工作至达到测试时间为11_13小时。优选地，测试时间为12小时。AC240V的电压用于模拟灯具实际工作电压。 额定温度为190°C-210°C。优选地，额定温度设为200°C。 在本实施例中，步骤S130具体为:将灯具接入电源，使灯具处于工作状态下，开启变频电源点亮灯具，变频电源的输出电压为AC240V。将灯具置于上述环境中测试12小时。在测试中分不同时间段测量灯具内部元件的温度及电压，一般地，选取测试时间0.5h、lh、 1.5h……11.5h、12h的时间点测量灯具内部元件的温度及电压，并记录测量结果。 步骤S130用于模拟灯具内部元件在实际工作温度下的环境。 步骤S140，检测经过温度测试的灯具内部元件是否正常，并记录检测结果。 在经过工作温度测试及温升测试后检测灯具内部元件是否正常，从而检验出符合标准的灯具内部元件，使得灯具的质量得到提高。 上述通过在灯具内部元件接热电偶并在灯具表面铺上粉尘，然后将灯具置于温升测试架上，让灯具在额定温度下工作至达到测试时间，并记录灯具内部元件的温度及电压，最后检测灯具内部元件是否正常。在灯具表面铺上粉尘使得灯具散热性变差，因此对灯具内部元件在灯具工作的状态下进行工作温度测试及温升测试后，能够检测出灯具内部元件在灯具散热性变差时，灯具内部元件是否正常。 目前常规的环境测试比如高低温等测试无法快速检测出灯具内部元件因散热性差而引起的缺陷。从而导致灯具内部元件在使用过程中出现短路或开路等异常现象，进而引起使用安全问题。在灯具组装后出现的缺陷可能导致灯具研发进度延迟和增加研发成本。在长期使用后出现的因散热差而短路或开路的现象更是无法控制，因而会导致产品的维修成本增加。通过上述，能够在短时间内加速灯具散热性能变差，加快灯具内部元件存在异常的发生，可以在灯具内部元件设计使用初期短时间内暴漏出潜在的、可能需要经过长期使用后可能出现的缺陷，进而经过技术部门的整改，最终根本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种灯具内部元件的温升测试方法，包括以下步骤：在灯具内部元件上接热电偶，并在灯具表面铺上粉尘；将灯具按照向下的照射方式安装于温升测试架上；将灯具接入电源，并使灯具在额定温度下工作至达到测试时间，在灯具工作中，分不同时间段测量灯具内部元件的温度及电压，并记录；检测经过温度测试的灯具内部元件是否正常，并记录检测结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周明杰，方璋，
申请(专利权)人：深圳市海洋王照明工程有限公司，海洋王照明科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44