光学触控系统及触控检测方法技术方案

一种光学触控系统及触控检测方法。该光学触控系统，包括触控面、反射结构及多个检测模块。反射结构及检测模块配置于触控面的周缘。各检测模块具有发光单元与检测单元。检测单元获取发光单元发出的检测光被反射结构反射后的亮度值分布，以检测触控输入。触控面的周缘包括第一区段及第二区段。当位于第一区段的发光单元发出检测光时，检测光在位于第二区段的检测模块处不被反射结构反射而产生低亮度区，且位于第二区段的发光单元对应地发出补偿光。此外，一种触控检测方法亦被提及。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种。该光学触控系统，包括触控面、反射结构及多个检测模块。反射结构及检测模块配置于触控面的周缘。各检测模块具有发光单元与检测单元。检测单元获取发光单元发出的检测光被反射结构反射后的亮度值分布，以检测触控输入。触控面的周缘包括第一区段及第二区段。当位于第一区段的发光单元发出检测光时，检测光在位于第二区段的检测模块处不被反射结构反射而产生低亮度区，且位于第二区段的发光单元对应地发出补偿光。此外，一种触控检测方法亦被提及。【专利说明】
本专利技术涉及一种触控系统及触控检测方法，特别是涉及一种光学触控系统及触控 检测方法。
技术介绍
近年来触控式的电子产品由于操作方便，直觉性高，因此深受消费者喜爱而已渐 渐成为市场上的主流趋势。在以往使用的电阻式、电容式、背投影式的触控屏幕中，以电容 式触控屏幕的触控效果最好，但其成本亦最为昂贵，且会随着屏幕尺寸的变大而增加，因而 限制了电容式触控屏幕的应用。为寻求电容式触控屏幕的替代方案，目前有一种利用光学 元件检测触控位置的光学式触控屏幕，其具有成本低、准确度佳等优点，在竞争的市场中更 具有优势，目前也已成为大尺寸触控屏幕的另外一种选择。 现有的一种光学式触控屏幕是利用在屏幕的周边或角落适当位置处设置至少二 个由影像感测器与发光单元搭配组成的光学模块，并在屏幕四周围设置反光边框，藉由发 光单元照亮反光边框反射光线，并由影像感测器补捉反射光线明暗状态而判断是否有物体 存在屏幕上以及计算物体的位置。例如，当使用者以手指（或其它物体）伸触至屏幕上时， 光学模块可感测手指遮断反光边框反射光线所产生的阴影的位置，进而可推算出手指触碰 点的精确位置。一般而言，二组光学模块仅能正确感测二根手指在屏幕上的位置，若是要检 测更多手指的触控点位置则需要增加更多组光学模块来实现。然而，超过二组光学模块的 其它光学模块将被安装在邻接所述二组光学模块或是所述二组光学模块对面的边框或角 落的位置，如此会造成至少其中一组光学模块产生"对看"的问题，具体说明如下。由于光学 模块的设置位置是无反光边框的位置（例如二反光边框的间隙），因此当其中一个光学模 块（以下称光学模块A)的发光单兀发光至邻接与对向的反光边框时，位于对向的反光边框 间隙的另一个光学模块（以下称光学模块B)无法产生相当于反光边框反光强度的足够反 射光线，因此光学模块A的影像感测器将会感测到光学模块B处的反光强度不足而为暗点， 而误判为是有触控物（例如人的手指）挡住反射光线，导致此光学触控系统无法辨识何者 为真实触控物而产生混淆，难以正确地判断究竟有多少触控物以及各触控物的精确位置。
技术实现思路
据此，为解决前述现有技术的问题，本专利技术提供一种光学触控系统及触控检测方 法，其藉由巧妙地适时产生补偿光来补偿检测模块处反射光线不足的暗点问题，而能正确 地判断究竟有多少触控物以及各触控物的精确位置。 本专利技术的光学触控系统包括一触控面、一反射结构及多个检测模块。反射结构配 置于触控面的周缘而围绕触控面。检测模块配置于触控面的周缘。各检测模块具有一发光 单元与一检测单元。各发光单元用以发出一检测光。各检测单元用以检测检测光被反射结 构反射后的一亮度值分布，以判断触控面上的各个位置是否接收触控输入。触控面的周缘 包括彼此相向的一第一区段及一第二区段。一部分检测模块位于第一区段而组成一第一群 组，另一部分检测模块位于第二区段而组成一第二群组。当第一群组的至少一发光单元往 第二区段发出检测光时，检测光在第二群组的检测模块处不被反射结构反射而使亮度值分 布产生至少一低亮度区，且第二群组的各发光单元发出一补偿光以对低亮度区进行补偿。 本专利技术的触控检测方法适用于一光学触控系统。光学触控系统包括一触控面、一 反射结构及多个检测模块。各检测模块具有一发光单元及一检测单元。部分检测模块组成 一第一群组，另一部分检测模块组成一第二群组。触控检测方法包括以下步骤。藉由第一 群组的至少一发光单元发出一检测光，其中检测光在第二群组的这些检测模块处不被反射 结构反射，而使检测光被反射结构反射后的一亮度值分布产生至少一低亮度区。藉由第二 群组的各发光单元发出一补偿光以对低亮度区进行补偿。藉由第一群组的各检测单元检测 亮度值分布，以判断触控面上的各个位置是否接收触控输入。 为使本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并结合附图详细 说明如下。 【专利附图】【附图说明】 图1是本专利技术一实施例的光学触控系统的示意图。 图2是图1的光学触控系统的触控检测方法流程图。 图3是图1的第一群组与第二群组切换操作状态的示意图。 图4是图1的光学触控系统的部分元件方块图。 图5是图1的检测光被反射结构反射后的亮度值分布图。 图6A至图6C是图5的低亮度区所造成的讯号缺陷被补偿的示意图 图7是本专利技术另一实施例的光学触控系统的示意图。 附图符号说明 50a、50b、50c、50d :第一发光兀件 60a、60b、60c、60d :第二发光兀件 100、200 :光学触控系统 110、210:触控面 120、220 :反射结构 120a ?120d:间隙 122 :反射边条 130a ?130d、230a ?230f :检测模块 132a、132b、132c、132d :发光单元 134a、134b、134c、134d :检测单元 140 :处理单元 150 :光源控制器 D :亮度值分布 d :低亮度区 f :讯号缺陷 G1、G1' ：第一群组 G2、G2' ：第二群组 LI、LI' ：检测光 L2、L2' ：补偿光 OB :物体 R1 :第一区段 R2 :第二区段 S :讯号 VI :基准值 V2:阈值 X:位置 【具体实施方式】 图1是本专利技术一实施例的光学触控系统的示意图。请参考图1，本实施例的光学 触控系统100包括一触控面110、一反射结构120及多个检测模块130a?130d(绘示为四 个）。光学触控系统100例如应用于显示装置或其它触控装置（如电子白板），而触控面 110可为显示装置的显示面、触控装置的操作面或与上述显示面及操作面相距微小距离的 平面。 反射结构120配置于触控面110的周缘而围绕触控面110。反射结构120包括多 个反射边条122 (绘示为四个），这些反射边条122沿触控面110的周缘间隔地排列而形成 多个间隙120a?120d(绘示为四个）。这些检测模块130a?130d配置于触控面110的 周缘且分别位于这些间隙120a?120d。触控面110的周缘包括彼此相向的一第一区段R1 及一第二区段R2,检测模块130a及检测模块130b位于第一区段R1而组成第一群组G1，检 测模块130c及检测模块130d位于第二区段R2而组成第二群组G2。 在本实施例中，各检测模块具有一发光单元与一检测单元。具体而言，检测模块 130a具有一发光单元132a与一检测单元134a，检测模块130b具有一发光单元132b与一 检测单元134b，检测模块13本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学触控系统，包括：一触控面；一反射结构，配置于该触控面的周缘而围绕该触控面；以及多个检测模块，配置于该触控面的周缘，其中各该检测模块具有一发光单元与一检测单元，各该发光单元用以发出一检测光，各该检测单元用以检测该检测光被该反射结构反射后的一亮度值分布，以判断该触控面上的各个位置是否接收触控输入，其中该触控面的周缘包括彼此相向的一第一区段及一第二区段，一部分这些检测模块位于该第一区段而组成一第一群组，另一部分这些检测模块位于该第二区段而组成一第二群组，当该第一群组的至少一该发光单元往该第二区段发出该检测光时，该检测光在该第二群组的这些检测模块处不被该反射结构反射而使该亮度值分布产生至少一低亮度区，且该第二群组的各该发光单元发出一补偿光以对该低亮度区进行补偿。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：陈裕彦，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71