检测散热单元的方法及该散热单元的检测系统技术方案

一种检测散热单元的方法及该散热单元的检测系统。所述检测散热单元的方法包括：（1）设定预设温差值；（2）设定处理器的工作周期为第一工作周期值；（3）检测处理器于第一工作周期值下的温度；（4）设定处理器的工作周期由第一工作周期值至第二工作周期值；（5）检测处理器于第二工作周期值下的温度；（6）计算处理器于第一工作周期值与第二工作周期值的温差；（7）比较温差与预设温差值以产生记录值；（8）重复步骤（2）至（7），并且累计记录值；以及（9）依据累计的记录值，判断散热单元是否异常。本发明专利技术可利用重复地检测处理器在不同工作周期下的温差来判断散热单元是否异常，进而降低测试时间以及环境变异可能造成的测试误差。

【技术实现步骤摘要】
检测散热单元的方法及该散热单元的检测系统
本专利技术涉及一种检测电子装置的技术，具体涉及一种检测散热单元的方法及该散热单元的检测系统。
技术介绍
为了使电子装置的处理器可正常运行，必需使处理器运行于适当的工作温度下，以避免其过热而影响运作效能。为了避免处理器过热，会设置导热片贴附在处理器之上，以加速处理器的热量散逸。然而，若是导热片并未能完全的贴附于处理器上时(例如贴歪，或是导热片仅有部分面积覆盖于处理器)，其处理器的散热功效将大打折扣。因此，在装机程序完成后，制造商还必须判断导热片是否正确贴附于处理器上，以确保处理器散热机制正常。在现行的检测方式中，一般是将电子装置放置于恒温恒湿箱中再加以长时间烧机(burnin)的方式来进行检测，完成后根据处理器的温度来判断处理器散热是否正常，以确定导热片是否正确贴附于处理器上。若否，则需更进一步打开电子装置进行检查导热片的贴附状态。若检测流程误判断处理器的散热机制不正常，工程人员仍需重新打开电子装置再检查导热片贴附状态，此过程相当无谓及耗时，且会严重影响到整体检测效率。因此如何的提升检测流程对于判断散热机制的正常与否的正确性，成为业界普遍关注的焦点。
技术实现思路
本专利技术提供一种检测散热单元的方法及该散热单元的检测系统，其可快速地检测出散热单元是否正确的设置于电子装置中。本专利技术的检测散热单元的方法适用于电子装置，所述电子装置包括处理器以及热连接处理器的散热单元。所述方法包括：(1)设定预设温差值；(2)设定处理器的工作周期为第一工作周期值；(3)检测处理器于第一工作周期值下的温度；(4)设定处理器的工作周期由第一工作周期值至第二工作周期值；(5)检测处理器于第二工作周期值下的温度；(6)计算处理器于第一工作周期值与第二工作周期值的温差；(7)比较温差与预设温差值以产生记录值；(8)重复步骤(2)至(7)，并且累计记录值；以及(9)依据累计的记录值，判断散热单元是否异常。较佳的，上述的检测散热单元的方法还包括：设定一预设重复值，其中该预设重复值用以设定步骤(8)中执行步骤(2)至(7)的重复次数；以及在步骤(8)中，依据该预设重复值，重复步骤(2)至(7)。较佳的，上述的检测散热单元的方法还包括：设定第一预设时间值以及第二预设时间值，其中第一预设时间值用以设定处理器于第一工作周期值下的运行时间，第二预设时间值用以设定处理器于第二工作周期值下的运行时间；在处理器于第一工作周期值下依据第一预设时间值运行第一工作时间后，检测处理器的温度；以及在处理器于第二工作周期值下依据第二预设时间值运行第二工作时间后，检测处理器的温度。较佳的，检测散热单元的方法还包括：设定第一门坎值；当温差大于预设温差值时，产生记录值；判断累计的记录值是否小于第一门坎值；以及当累计的记录值小于第一门坎值时，判断散热单元为正常。较佳的，检测散热单元的方法还包括：设定第二门坎值；判断累计的记录值是否大于或等于第二门坎值；以及当累计的记录值大于或等于第二门坎值时，判断散热单元为异常。较佳的，检测散热单元的方法还包括：当累计的记录值大于或等于第一门坎值且小于第二门坎值时，判断该散热单元为待确认状态；依据一检查次数，重复步骤(8)；当重复步骤(8)的次数小于检查次数时，分别依据每一次步骤(8)所得的累计的记录值，判断散热单元是否异常；以及当重复步骤(8)的次数等于检查次数，并且散热单元仍为待确认状态时，判断散热单元为异常。较佳的，检测散热单元的方法还包括：设定第一门坎值；当温差小于预设温差值时，产生记录值；判断累计的记录值是否大于或等于第一门坎值；以及当累计的记录值大于或等于第一门坎值时，判断散热单元为正常。较佳的，检测散热单元的方法还包括：设定第二门坎值；判断累计的记录值是否小于第二门坎值；以及当累计的记录值小于第二门坎值时，判断散热单元为异常。较佳的，检测散热单元的方法还包括：当累计的记录值小于第一门坎值且大于或等于第二门坎值时，判断散热单元为待确认状态；依据检查次数，重复步骤(8)；当重复步骤(8)的次数小于检查次数时，分别依据每一次步骤(8)所得的累计的记录值，判断散热单元是否异常；以及当重复步骤(8)的次数等于检查次数，并且散热单元仍为待确认状态时，判断散热单元为异常。本专利技术的散热单元的检测系统适用于电子装置，其中电子装置包括处理器以及热连接处理器的散热单元。所述检测系统包括温度侦测单元以及控制单元。温度侦测单元用以检测处理器的温度。控制单元电性连接处理器与温度侦测单元。控制单元用以取得温度侦测单元所侦测的温度，设定处理器的工作周期，并且判断散热单元是否异常。其中，当控制单元执行测试程序时，控制单元设定处理器的工作周期为第一工作周期值或第二工作周期值，并且藉由温度侦测单元分别取得处理器于第一工作周期值与第二工作周期值的温度，而后控制单元计算处理器于第一工作周期值与第二工作周期值的温差，并且比较温差与预设温差值以产生记录值。其中，控制单元重复执行测试程序以累计每一次执行测试程序所产生的记录值。控制单元依据累计的记录值判断散热单元是否异常。较佳的，控制单元依据预设重复值控制重复执行测试程序的重复次数。较佳的，控制单元依据第一预设时间值设定处理器于第一工作周期值下的运行时间，并且依据第二预设时间值设定处理器于第二工作周期值下的运行时间，其中温度侦测单元在处理器于第一工作周期值下依据第一预设时间值运行第一工作时间后，检测处理器的温度，并且温度侦测单元在处理器于第二工作周期值依据第二预设时间值运行第二工作时间后，检测处理器的温度。较佳的，当温差大于预设温差值时，控制单元产生对应的记录值，其中控制单元判断累计的记录值是否小于一第一门坎值，当该控制单元判断累计的记录值小于该第一门坎值时，该控制单元判断该散热单元为正常。较佳的，控制单元判断累计的各个记录值是否大于或等于第二门坎值，当控制单元判断累计的各个记录值大于或等于第二门坎值时，控制单元判断散热单元为异常。较佳的，当控制单元判断累计的各个记录值大于或等于第一门坎值且小于第二门坎值时，控制单元判断散热单元为待确认状态，并且依据检查次数重复执行测试程序。其中，当重复执行测试程序的次数小于检查次数时，控制单元分别依据每一次测试程序所得的累计的记录值，判断散热单元是否异常，以及当重复执行测试程序的次数等于检查次数，并且散热单元仍为待确认状态时，控制单元判断散热单元为异常。较佳的，当温差小于预设温差值时，控制单元产生对应的记录值，其中控制单元判断累计的记录值是否大于或等于第一门坎值，当控制单元判断累计的记录值大于或等于第一门坎值时，控制单元判断散热单元为正常。较佳的，控制单元判断累计的记录值是否小于第二门坎值，当控制单元判断累计的记录值小于该第二门坎值时，该控制单元判断该散热单元为异常。较佳的，当控制单元判断累计的记录值小于第一门坎值且大于或等于第二门坎值时，控制单元判断散热单元为待确认状态，并且依据检查次数重复执行测试程序。其中，当重复执行测试程序的次数小于检查次数时，控制单元分别依据每一次测试程序所得的累计的记录值，判断散热单元是否异常，以及当重复执行测试程序的次数等于检查次数，并且散热单元仍为待确认状态时，控制单元判断散热单元为异常。相较于现有技本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测散热单元的方法，适用于一电子装置，其特征在于，该电子装置包括一处理器以及热连接该处理器的该散热单元，该方法包括：（1）设定一预设温差值；（2）设定该处理器的工作周期为一第一工作周期值（duty cycle）；（3）侦测该处理器于该第一工作周期值下的温度；（4）设定该处理器的工作周期由该第一工作周期值至一第二工作周期值；（5）侦测该处理器于该第二工作周期值下的温度；（6）计算该处理器于该第一工作周期值与该第二工作周期值的温差；（7）比较该温差与该预设温差值以产生一记录值；（8）重复步骤（2）至（7），并且累计该些记录值；（9）依据累计的记录值，判断该散热单元是否异常。

【技术特征摘要】
1.一种检测散热单元的方法，适用于一电子装置，其特征在于，该电子装置包括一处理器以及热连接该处理器的该散热单元，该方法包括：（1）设定一预设温差值；（2）设定该处理器的工作周期为一第一工作周期值（dutycycle）；（3）侦测该处理器于该第一工作周期值下的温度；（4）设定该处理器的工作周期由该第一工作周期值至一第二工作周期值；（5）侦测该处理器于该第二工作周期值下的温度；（6）计算该处理器于该第一工作周期值与该第二工作周期值的温差；（7）比较该温差与该预设温差值以产生一记录值；（8）重复步骤（2）至（7），并且累计该些记录值；（9）依据累计的记录值，判断该散热单元是否异常。2.根据权利要求1所述的检测散热单元的方法，其特征在于，该方法还包括：设定一预设重复值，其中该预设重复值用以设定步骤（8）中执行步骤（2）至（7）的重复次数；在步骤（8）中，依据该预设重复值，重复步骤（2）至（7）。3.根据权利要求1所述的检测散热单元的方法，其特征在于，还包括：设定一第一预设时间值以及一第二预设时间值，其中该第一预设时间值用以设定该处理器于该第一工作周期值下的运行时间，该第二预设时间值用以设定该处理器于该第二工作周期值下的运行时间；在该处理器于该第一工作周期值下依据该第一预设时间值运行一第一工作时间后，侦测该处理器的温度；在该处理器于该第二工作周期值下依据该第二预设时间值运行一第二工作时间后，侦测该处理器的温度。4.根据权利要求1所述的检测散热单元的方法，其特征在于，还包括：设定一第一门坎值；当该温差大于该预设温差值时，产生该记录值；判断累计的记录值是否小于该第一门坎值；当累计的记录值小于该第一门坎值时，判断该散热单元为正常。5.根据权利要求4所述的检测散热单元的方法，其特征在于，还包括：设定一第二门坎值；判断累计的记录值是否大于或等于该第二门坎值；以及当累计的记录值大于或等于该第二门坎值时，判断该散热单元为异常。6.根据权利要求5所述的检测散热单元的方法，其特征在于，还包括：当累计的记录值大于或等于该第一门坎值且小于该第二门坎值时，判断该散热单元为待确认状态；依据一检查次数，重复步骤（8）；当重复步骤（8）的次数小于该检查次数时，分别依据每一次步骤（8）所得的累计的记录值，判断该散热单元是否异常；以及当重复步骤（8）的次数等于该检查次数，并且该散热单元仍为待确认状态时，判断该散热单元为异常。7.根据权利要求1所述的检测散热单元的方法，其特征在于，还包括：设定一第一门坎值；当该温差小于或等于该预设温差值时，产生该记录值；判断累计的记录值是否大于或等于该第一门坎值；以及当累计的记录值大于或等于该第一门坎值时，判断该散热单元为正常。8.根据权利要求7所述的检测散热单元的方法，其特征在于，还包括：设定一第二门坎值；判断累计的记录值是否小于该第二门坎值；当累计的记录值小于该第二门坎值时，判断该散热单元为异常。9.根据权利要求8所述的检测散热单元的方法，其特征在于，还包括：当累计的记录值小于该第一门坎值且大于或等于该第二门坎值时，判断该散热单元为待确认状态；依据一检查次数，重复步骤（8）；当重复步骤（8）的次数小于该检查次数时，分别依据每一次步骤（8）所得的累计的记录值，判断该散热单元是否异常；当重复步骤（8）的次数等于该检查次数，并且该散热单元仍为待确认状态时，判断该散热单元为异常。10.一种散热单元的检测系统，适用于一电子装置，其特征在于，其中该电子装置包括一处理器以及热连接该处理器的该散热单元，该检测系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：李秉蔚，陈冠宏，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，神基科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32