本发明专利技术提供一种检查装置，能更可靠地将未来有可能变成不满足关于规定物理量的产品规格的状态的检查对象判定为不良品。设置在搬送装置（3）的测定平台（ST1、ST2）上来对电阻（2）的电阻值（R）进行测定的测定装置（4、5）中的测定装置（4）对本身测定到的一个电阻（2）的电阻值（R）是否包含在基准范围内进行判定，将该判断数据D1发送到处理装置（7），并将该电阻值（R）发送到测定装置（5）。测定装置（5）对本身测定到的该一个电阻（2）的电阻值（R）是否包含在基准范围内进行判定，并将该判断数据（D1）发送到处理装置（7），并对从测定装置（4）接收到的一个电阻（2）的电阻值（R）与本身测定到的该一个电阻（2）的电阻值（R）的差分值（ΔＲ）是否包含在基准差分范围内进行判定，并将该判断数据D2发送到处理装置（7）。处理装置（7）基于各判断数据（D1）和判断数据（D2）来判定电阻（2）的质量。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种检查装置，能更可靠地将未来有可能变成不满足关于规定物理量的产品规格的状态的检查对象判定为不良品。设置在搬送装置（3）的测定平台（ST1、ST2）上来对电阻（2）的电阻值（R）进行测定的测定装置（4、5）中的测定装置（4）对本身测定到的一个电阻（2）的电阻值（R）是否包含在基准范围内进行判定，将该判断数据D1发送到处理装置（7），并将该电阻值（R）发送到测定装置（5）。测定装置（5）对本身测定到的该一个电阻（2）的电阻值（R）是否包含在基准范围内进行判定，并将该判断数据（D1）发送到处理装置（7），并对从测定装置（4）接收到的一个电阻（2）的电阻值（R）与本身测定到的该一个电阻（2）的电阻值（R）的差分值（ΔＲ）是否包含在基准差分范围内进行判定，并将该判断数据D2发送到处理装置（7）。处理装置（7）基于各判断数据（D1）和判断数据（D2）来判定电阻（2）的质量。【专利说明】检查装置
本专利技术涉及基于在不同的时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定而得到的 两个测定值来检测该检查对象的质量的检查装置。
技术介绍
本专利技术 申请人:已提出了下述专利文献1所公开的质量判断装置作为这种检查装 置。该质量判断装置包括：搬送检查对象(例如电容器）的带式输送机；沿着带式输送机对 检查对象的搬送方向而规定的两个测定平台（第一测定平台以及第二测定平台）上所设置 的两个检查装置；以及处理装置。 在该质量判断装置中，各检查装置依次测定由带式输送机搬送并位于各个测定平 台的检查对象的同一物理量(例如在检查对象为电容器时为静电电容值)，并且将测定到的 物理量与预先设定的同一判断用基准值(对质量的范围进行规定的上限电容值和下限电容 值)进行比较，从而对检查对象的质量进行检查。各检查装置将该检查的结果输出到处理装 置。处理装置输入并储存从各检查装置输出的检查结果，并基于各检查装置对同一检查对 象的检查结果，当各检查装置的检查结果均为良品时，判断该检查对象最终为良品，其它情 况下（即，各检查装置的检查结果的至少一个为不良品时)，判断该检查对象最终为不良品。 根据该质量判断装置，能对同一检查对象(一个检查对象）执行双重检查(二次检 查)。 现有技术文献 专利文献 专利文献1 :日本专利特开2011 - 59049号公报（第5-9页、第1图）
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题 然而，上述质量判断装置中存在如下需要改善的问题。即，在检查对象中，存在着 因检查装置测定物理量时施加的测定用信号(例如测定电压）而引起物理量产生变化的检 查对象。可以认为这种检查对象是由于制造不良等原因而产生，存在物理量在市场上流通 的状态、或最终由用户使用的状态下物理量产生变化的情况（即，物理量在出厂后产生变化 的情况)，可能在未来变为不满足检查对象应当满足的对于该物理量的产品规格的状态。因 此，这种检查对象原本就应判断为不良品。 然而，即使是这种应当判断为不良品的检查对象，由于第一个检查装置施加测定 用信号所引起的物理量的变化程度，会存在第二个检查装置所测定到的物理量满足判断用 基准值的情况。这种情况下，上述质量判断装置中，两个检查装置中的对于检查对象的物理 量均满足判断用基准值，从而将上述检查对象判断为良品。因此，上述质量判断装置存在如 下需要改善的问题：难以将如下这种检查对象判断为不良品，即，在市场上流通的状态、或 在最终由用户使用的状态下，物理量有可能会产生变化，从而检查对象在未来变成不满足 对于该物理量的产品规格的状态 本专利技术是为了解决上述问题而完成的，其主要目的在于提供一种检查装置，能更 准确地将在未来有可能变为不满足对于规定物理量的产品规格的状态的检查对象判断为 不良品。 解决技术问题所采用的技术方案 为实现上述目的，权利要求1所述的检查装置执行以下处理：差分值比较处理，该 差分值比较处理将以不同时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定得到的两个测定值 之间的差分值与预先规定的基准差分范围进行比较，并判定该差分值是否包含在该基准差 分范围内；以及判定处理，该判定处理在该差分值包含在该基准差分范围内时将所述检查 对象判定为良品，并在该差分值未包含在该基准差分范围内时将所述检查对象判定为不良 品。 权利要求2所述的检查装置执行以下处理：测定值比较处理，该测定值比较处理 将以不同时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定得到的两个测定值与对每个该测定 值预先规定的基准范围进行比较，并判定该各个测定值是否均包含在该基准范围内；差分 值比较处理，该差分值比较处理将所述两个测定值之间的差分值与预先规定的基准差分范 围进行比较，并判定该差分值是否包含在该基准差分范围内；以及判定处理，该判定处理在 所述两个测定值均包含在所述基准范围内、且所述差分值包含在所述基准差分范围内时将 所述检查对象判定为良品，在其它情况下将所述检查对象判定为不良品。 权利要求3所述的检查装置在权利要求1所述的检查装置中，包括FIFO存储器， 该FIFO存储器依次输入并存储对多个所述检查对象依次测定得到的所述物理量的测定 值，并按照存储的顺序将其作为所述两个测定值的其中一个测定值进行输出，该检查装置 执行以下测定处理：与对从所述FIFO存储器输出的所述一个测定值进行了测定的所述检 查对象相同的检查对象的所述物理量依次进行测定，从而作为所述两个测定值中的另一个 测定值获得。权利要求4所述的检查装置在权利要求2所述的检查装置中，包括FIFO存储 器，该FIFO存储器依次输入并存储对多个所述检查对象依次测定得到的所述物理量的测 定值，并按照存储顺序将其作为所述两个测定值的其中一个测定值进行输出，该检查装置 执行以下测定处理：与对从所述FIFO存储器输出的所述一个测定值进行了测定的所述检 查对象相同的检查对象的所述物理量依次进行测定，从而作为所述两个测定值中的另一个 测定值获得。 权利要求5所述的检查装置包括：搬送装置，对检查对象进行搬送；两个测定装 置，分别设置在沿着所述搬送装置搬送所述检查对象的方向而规定的两个测定平台上，并 执行对搬送到该测定平台上的所述检查对象的同一物理量进行测定的测定处理；以及处理 装置，基于由所述两个测定装置在不同时刻对同一所述检查对象测定到的所述物理量的测 定值来判定该同一检查对象的质量，所述两个测定装置中的一个测定装置构成为能执行将 其本身测定到的所述物理量的测定值发送给该两个测定装置中的另一个测定装置的发送 处理，所述另一个测定装置构成为能执行以下处理：对从所述一个测定装置发送来的所述 测定值进行接收的接收处理；对所述测定处理中其本身测定到的一个所述检查对象的所述 物理量的测定值、与该接收处理中接收到的所述一个测定装置测得的该一个检查对象的所 述测定值之间的差分值进行计算的差分值计算处理；以及将该计算出的差分值与预先规定 的基准差分范围进行比较从而判定该差分值是否包含在该基准差分范围内、并发送给所述 处理装置的差分值比较处理，所述处理装置执行以下判定处理：在从所述另一个测定装置 接收到的所述差分值比较处理的判定结果为所述差分值包含在所述基准差分范围内的判 定结果本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检查装置，其特征在于，该检查装置执行以下处理：差分值比较处理，该差分值比较处理将以不同时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定得到的两个测定值之间的差分值与预先规定的基准差分范围进行比较，并判定该差分值是否包含在该基准差分范围内；以及判定处理，该判定处理在该差分值包含在该基准差分范围内时将所述检查对象判定为良品，并在该差分值未包含在该基准差分范围内时将所述检查对象判定为不良品。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：寺岛隆幸，斋藤信幸，
申请(专利权)人：日置电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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