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一种线性光耦线性度自动测试装置制造方法及图纸

技术编号:10547659 阅读:170 留言:0更新日期:2014-10-16 15:08
本实用新型专利技术涉及一种线性光耦线性度自动测试装置,包括测试电路,测试电路主要由信号源电路21、信号输入电路22、信号输出电路23、模数转换模块24和微处理器25构成,信号源电路21的输出端连接信号输入电路22,信号输入电路22用于连接待测试的线性光耦的输入,信号输出电路23用于连接待测试的线性光耦的输出;信号输出电路23的输出、信号源电路21的输出均通过模数转换模块24连接微处理器25。采用微处理器,一方面采集信号源的输出信号,另一方面采集信号源经过线性光耦处理后的信号,将这两种信号进行比较,以判断线性光耦的性能,提高了测试的自动化程度,提高了效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种线性光耦线性度自动测试装置,包括测试电路,测试电路主要由信号源电路21、信号输入电路22、信号输出电路23、模数转换模块24和微处理器25构成,信号源电路21的输出端连接信号输入电路22,信号输入电路22用于连接待测试的线性光耦的输入,信号输出电路23用于连接待测试的线性光耦的输出;信号输出电路23的输出、信号源电路21的输出均通过模数转换模块24连接微处理器25。采用微处理器,一方面采集信号源的输出信号,另一方面采集信号源经过线性光耦处理后的信号,将这两种信号进行比较,以判断线性光耦的性能,提高了测试的自动化程度,提高了效率。【专利说明】一种线性光耦线性度自动测试装置
本技术涉及一种线性光耦线性度自动测试装置。
技术介绍
线性光耦在模拟信号隔离传输上被广泛使用,如信号隔离器、信号调理器、隔离变 送器、隔离式模拟量采集模块、隔离式安全栅等设备中均广泛使用线性光耦,由于线性光耦 的线性度可达到〇. 01%,因此线性光耦可用在高精度信号隔离传输设备上,如〇. 05%精度 高速高精度模拟信号隔离器上,然由于线性光耦做为半导体器件,其线性度参数存在分散 性,并非所有的线性光耦的线性度均能达到〇. 01 %,事实上,大多线性光耦的线性度分布在 0. 01 %至0. 05%的水平,对于线性度误差为0. 03%以上的线性光耦,当其与运放、阻容等 外部电路匹配使用时,整个电路的线性度误差就可能超过0.05%,如果不提前对线性光耦 的线性度进行测试,在高精度模拟信号隔离器批量生产中,会使得产品初次调试合格率不 高,额外增加了调试时间,若可以通过对线性光耦线性度进行测试,将线性误差高于〇. 03% 的线性光耦在使用前剔除出来,就可以极大提高高精度模拟信号隔离设备产品初次调试合 格率。 现有对线性光耦线性度测试则是将线性光耦以焊接方式固定在线性光耦固定部 件上,再配合使用高精度信号源、高精度标准表,人工选择高精度信号源输出不同的基准信 号,读取高精度标准表在不同基准点上的测量数据,依此计算线性光耦的线性度。现有线性 度测试存在如下问题:人工对线性光耦线性度测试,需要测试和记录的数据量较大,造成测 试效率低下,而且容易出错,无法适应高精度模拟信号隔离设备批量生产中对较大数量线 性光耦线性度进行测试的要求,严重制约着产品的初次调试合格率和生产效率。因此,有必 要研制一种对线性光耦线性度进行自动测试的装置,以便快速、准确、高效的将线性度误差 高于0. 03%的线性光耦在使用之前剔除出来,提高高精度模拟信号隔离设备产品初次调试 合格率,提高生产效率。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种线性光耦线性度自动测试装置,用以解决现有测试 方式自动化程度低、操作复杂、效率低的问题。 为实现上述目的,本技术的方案包括: -种线性光耦线性度自动测试装置,包括测试电路,测试电路主要由信号源电路 (21)、信号输入电路(22)、信号输出电路(23)、模数转换模块(24)和微处理器(25)构成, 信号源电路(21)的输出端连接信号输入电路(22)的输入,信号输入电路(22)的输出用于 连接待测试的线性光耦的输入端,信号输出电路(23)的输入用于连接待测试的线性光耦 的输出端;信号输出电路(23)的输出、信号源电路(21)的输出均通过模数转换模块(24) 连接微处理器(25)。 所述信号源电路输出至少三路电压基准,所述微处理器控制连接所述信号源电 路,用于选择信号源电路的输出电压基准。 所述测试电路设置在测试电路板(2)上。 还包括一个线性光耦固定部件(1),所述线性光耦固定部件(1)上设有用于连接 待测试的线性光耦各引脚的电连接端子(111),电连接端子(111)与所述测试电路板(2)上 的信号输入电路(22)、信号输出电路(23)分别对应连接。 所述线性光耦固定部件(1)包括基座(11)和压板(12);所述电连接端子(111)设 于基座(11)上,电连接端子(111)为弹性簧片,所述压板(12)压住待测试的线性光稱,以 使待测试的线性光耦的引脚与弹性簧片形成稳定接触。 所述弹性簧片包括簧片,簧片一端固定在基座(11)上,另一端与基座(11)之间设 有弹簧,该设置弹簧的一端设有用于容纳待测试的线性光耦的引脚的凹槽(112)。 其特征在于,所述基座(11)上还设有用于限位待测试线性光耦的凸起部(L1、 L2)。 所述压板(12)为一个转盘,该转盘的旋转轴与基座(11)所在平面垂直、固定在基 座(11)上。 所述转盘上设有一个导向坡面,所述导向坡面为转盘上的一个折起结构。 本技术的线性光耦测试装置,采用微处理器,一方面采集信号源的输出信号, 另一方面采集信号源经过线性光耦处理后的信号,将这两种信号进行比较,以判断线性光 耦的性能,提高了测试的自动化程度,提高了效率。 信号源设置多种电压基准,在微处理器的控制下对任一个线性光耦进行多种电压 基准的测试,能够完整的体现线性光耦性能。 本技术还提供了一种用于线性光耦测试的固定部件,固定部件通过一个压板 来压住待测试的线性光耦,将线性光耦的引脚与基座上的弹性簧片形成稳固的接触,而弹 性簧片本身是与测试电路电连接的,从而将线性光耦,即芯片与测试电路可靠连接,可以进 行测试操作,操作时只需将线性光耦放入基座的设定位置上,然后由压板压住即可。 进一步的,压板采用转盘结构,在需要放入芯片时将转盘转动移开,露出放置芯片 的设定位置,需要按压时将转盘转动到设定位置上,压住芯片以完成测试,操作非常方便。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术的结构原理图; 图2是信号源电路的多电压基准结构示意图; 图3是信号输入电路原理图; 图4是信号输出电路原理图; 图5是所采用的一种模数转换器; 图6是线性光耦固定部件结构图; 图7是弹性簧片俯视图; 图8是弹性簧片水平视图; 图9是压板结构图; 图10是测试操作开始状态示意图; 图11是测试操作中状态示意图。 【具体实施方式】 下面结合附图对本技术做进一步详细的说明。 如图1,本技术的基本方案在于:一种线性光耦线性度自动测试装置,包括测 试电路,测试电路主要由信号源电路21、信号输入电路22、信号输出电路23、模数转换模块 24和微处理器25构成,信号源电路21的输出端连接信号输入电路22的输入,信号输入电 路22的输出用于连接待测试的线性光耦的输入,信号输出电路23的输入用于连接待测试 的线性光耦的输出;信号输出电路23的输出、信号源电路21的输出均通过模数转换模块 24连接微处理器25。 微处理器通过模数转换模块同时采集信号源的输出信号,以及信号源经过线性光 耦处理后的信号,将这两种信号进行比较,以判断线性光耦的性能。 基于该基本方案,下面给出一种【具体实施方式】。 微处理器采用单片机。 信号源电路可以设置为包括输出至少三路电压基准;微处理器控制连接信号源电 路,用于选择信号源电路的输出电压基准。如图2所示,信号源电路21包括η个支路,第 一本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种线性光耦线性度自动测试装置,其特征在于,包括测试电路,测试电路主要由信号源电路(21)、信号输入电路(22)、信号输出电路(23)、模数转换模块(24)和微处理器(25)构成,信号源电路(21)的输出端连接信号输入电路(22)的输入,信号输入电路(22)的输出用于连接待测试的线性光耦的输入端,信号输出电路(23)的输入用于连接待测试的线性光耦的输出端;信号输出电路(23)的输出、信号源电路(21)的输出均通过模数转换模块(24)连接微处理器(25)。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:王允
申请(专利权)人:王允
类型:新型
国别省市:河南;41

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