一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统技术方案

本发明专利技术公开了一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统,系统中激光器通过光纤连接所述第一光纤耦合器，第一光纤耦合器的一个输出端连接所述的声光移频器，声光移频器的输出端与第一耦合器的另外一个输出端连接所述第二光纤耦合器的两个输入端，第二光纤耦合器的输出端通过所述聚焦透镜把光聚焦在所述扫描共焦腔F-P干涉仪中心，扫描共焦腔F-P干涉仪连接所述光电探头，光电探头连接所述时间测量模块。只需要知道两个频率激光出射的时间信息和声光移频器的频率信息，就能算出扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围。本方案操作简便，测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统,系统中激光器通过光纤连接所述第一光纤耦合器，第一光纤耦合器的一个输出端连接所述的声光移频器，声光移频器的输出端与第一耦合器的另外一个输出端连接所述第二光纤耦合器的两个输入端，第二光纤耦合器的输出端通过所述聚焦透镜把光聚焦在所述扫描共焦腔F-P干涉仪中心，扫描共焦腔F-P干涉仪连接所述光电探头，光电探头连接所述时间测量模块。只需要知道两个频率激光出射的时间信息和声光移频器的频率信息，就能算出扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围。本方案操作简便，测量精度高。【专利说明】-种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统
本专利技术涉及一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统。
技术介绍
随着高分辨率激光光谱检测，精密光学测量等技术的不断发展，扫描共焦腔F-P 干涉仪作为一种高精度光谱分析仪器，得到了广泛的应用，目前检测F-P自由光谱范围的 方法主要有频率调制技术,该技术精度高，但系统结构复杂，并且需要复杂的数据后处理才 能得到F-P的自由光谱范围，但精确测量扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围的技术并未 出现。
技术实现思路
本专利技术提供一种精确测量扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围的测量系统。解决 了精确快速测量扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围的问题。 本专利技术所述测量系统包括激光器，第一、第二光纤稱合器，声光移频器，扫描共焦 腔F-P干涉仪，聚焦透镜，光电探头，时间测量模块。 所述激光器通过光纤连接所述第一光纤耦合器，第一光纤耦合器的一个输出端连 接所述的声光移频器，声光移频器的输出端和第一光纤耦合器的另外一个输出端分别与第 二光纤耦合器的两个输入端连接，第二光纤耦合器的输出端通过所述聚焦透镜把光聚焦在 所述扫描共焦腔F-P干涉仪中心，扫描共焦腔F-P干涉仪连接所述光电探头，光电探头连接 所述时间测量模块。 系统测量原理如下： 光电探头得到的信号如图1所述，设R为F-P腔的腔长，&为h时刻F-P腔的腔 长，此时波长为λ i的激光和F-P腔腔长匹配，从F-P腔中出射，&为&时刻F-P腔的腔 长，此时波长为\2的激光和F-P腔腔长匹配，从F-P腔中出射，波长为λ 2的激光为波长 为λ i的激光移频得到，R2为t2时刻F-P腔的的腔长，根据F-P干涉仪相干加强原理，得 到： k λ j = 2R〇 (1) k λ 2 = 2? (2) (k+1) λ j = 2R2 (3) (2)式减⑴式得： k ( λ 2- λ j) = 2 (Rj-Rg) (4) (3)式减⑴式得： λ ： = 2 (R2-R〇) (5) (4)式除以（5)式得 【权利要求】1. 一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统，包括激光器（1)，第一光纤耦合 器（2)，第二光纤耦合器（4)，声光移频器（3)，扫描共焦腔F-P干涉仪（6)，聚焦透镜（5)，光 电探头（7)，时间测量模块（8)，其特征在于： 所述的激光器（1)通过光纤连接第一光纤耦合器（2)，第一光纤耦合器（2)的一个输出 端连接声光移频器（3)，声光移频器（3)的输出端和第一光纤f禹合器（2)的另外一个输出端 分别与第二光纤耦合器（4)的两个输入端连接，第二光纤耦合器（4)的输出端通过所述聚 焦透镜（5)把光聚焦在所述扫描共焦腔F-P干涉仪（6)中心，扫描共焦腔F-P干涉仪（6)连 接所述光电探头（7)，光电探头（7)连接所述时间测量模块（8)，通过时间测量模块（8)来 获取两个频率激光出射的时间信息，并根据声光移频器（3)的频率信息计算出扫描共焦腔 F-P干涉仪自由光谱范围。2. 根据权利要求1所述的一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统，其特征 在于：所述的激光器（1)为一波长为F-P干涉仪工作波长范围内的连续波激光器。3. 根据权利要求1所述的一种扫描共焦腔F-P干涉仪自由光谱范围测量系统，其特征 在于：所述的声光移频器（3)为一使激光频率变化固定频率的仪器。【文档编号】G01M11/02GK104101483SQ201410258933【公开日】2014年10月15日 申请日期:2014年6月12日 优先权日:2014年6月12日 【专利技术者】胡以华, 刘豪, 舒嵘, 洪光烈, 葛烨, 黄宇翔 申请人:中国科学院上海技术物理研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种扫描共焦腔F‑P干涉仪自由光谱范围测量系统，包括激光器(1)，第一光纤耦合器(2)，第二光纤耦合器(4)，声光移频器(3)，扫描共焦腔F‑P干涉仪(6)，聚焦透镜(5)，光电探头(7)，时间测量模块(8)，其特征在于：所述的激光器(1)通过光纤连接第一光纤耦合器(2)，第一光纤耦合器(2)的一个输出端连接声光移频器(3)，声光移频器(3)的输出端和第一光纤耦合器(2)的另外一个输出端分别与第二光纤耦合器(4)的两个输入端连接，第二光纤耦合器(4)的输出端通过所述聚焦透镜(5)把光聚焦在所述扫描共焦腔F‑P干涉仪(6)中心，扫描共焦腔F‑P干涉仪(6)连接所述光电探头(7)，光电探头(7)连接所述时间测量模块(8)，通过时间测量模块(8)来获取两个频率激光出射的时间信息，并根据声光移频器(3)的频率信息计算出扫描共焦腔F‑P干涉仪自由光谱范围。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：胡以华，刘豪，舒嵘，洪光烈，葛烨，黄宇翔，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31