【技术实现步骤摘要】
一种适用于管状试样的老化箱
本专利技术涉及高分子材料测试
，具体的是一种适用于管状试样的老化箱。
技术介绍
近年来，随着高分子材料行业的快速发展与技术的成熟，非金属承压设备采用全 高分子、高分子复合材料或者高分子涂层材料以在表面改性、力学承载、工程防腐等方面部 分甚至全部取代金属材料情况越来越多，并在我国的民生建设、经济发展等重要领域起到 重要作用。但由于承压设备服役环境的特殊性，其许多部件往往都受到自然环境与工业环 境等多重老化因素诱导。对特种设备而言，高分子材料老化主要的危害是造成其性能损失， 导致材料的不合于使用问题。相关行业中高分子材料许多情况下都是最主要防腐措施或者 最薄弱的部位，是容易诱发设备失效的重点环节。与之相对应的是，由于研究工作的开展不 足，导致我国的检测单位对其老化与失效的认知缺乏，相关的检测标准的严重滞后，给相关 设备的安全运行带来难以预知的风险。 -般来说，造成高分子材料老化原因主要是由于结构或组分内部具有易引起老化 的低能键如具有不饱和双键、支链、羰基、末端上的羟基，等等。对于特种设备所用的高分...
【技术保护点】
一种适用于管状试样的老化箱，其特征在于，所述适用于管状试样的老化箱包括用于固定管状试样(2)的试样夹具(1)和多个长条形的老化光源(6)，试样夹具(1)能够驱动该老化箱所处理的管状试样(2)以管状试样(2)的轴线为轴转动，多个长条形的老化光源(6)分布在试样夹具(1)的周围，每个长条形的老化光源(6)的长度方向均与该老化箱所能处理的管状试样(2)的轴线平行，每个长条形的老化光源(6)到该老化箱所能处理的管状试样(2)的轴线的距离均相同。
【技术特征摘要】
1. 一种适用于管状试样的老化箱，其特征在于，所述适用于管状试样的老化箱包括用 于固定管状试样（2)的试样夹具（1)和多个长条形的老化光源￠)，试样夹具（1)能够驱 动该老化箱所处理的管状试样（2)以管状试样（2)的轴线为轴转动，多个长条形的老化光 源（6)分布在试样夹具（1)的周围，每个长条形的老化光源￠)的长度方向均与该老化箱 所能处理的管状试样（2)的轴线平行，每个长条形的老化光源（6)到该老化箱所能处理的 管状试样（2)的轴线的距离均相同。2. 根据权利要求1所述的适用于管状试样的老化箱，其特征在于：所述适用于管状试 样的老化箱还包括光强探头（5)，光强探头（5)位于该老化箱所能处理的管状试样（2)的上 方，同时光强探头（5)还位于与该老化箱所能处理的管状试样（2)的外边缘平齐的位置。3. 根据权利要求2所述的适用于管状试样的老化箱，其特征在于：光强探头（5)通过 探头夹具（4)与探头滑轨（3)连接，光强探头（5)和探头夹具（4)能够沿着探头滑轨（3) 往复移动，该探头滑轨（3)沿该老化箱所能处理的管状试样（2)的径向设置。4. 根据权利要求2所述的适用于管状试样的老化箱，其特征在于：光强探头（5)和多 个长条形的老化光源（6)均与光强控制系统连接，该光强控制系统能够根据光强探头（5) 接收到的实际辐照强度自动调整老化光源（6)的供电电流实现管状试样（2)接收到的辐照 度恒定。5. 根据权利要求2所述的适用于管状试样的老化箱，其特征在于：老化光源（6)以标 准方式设置，该标准方式设置为多个长条形的老化光源（6)均匀分布在试样夹具（1)的周 围，老化光源￠)的数量为标准值，该标准值为A ;A的计算公式为： k = χιΧ?, = 2 π rXx〇 ； A的数值为四舍五入保留整数，A的单位为个；Xi为老化光源（6)的密度，Xi的数值为 四舍五入保留整数，七单位为个/mm ;D为该老化箱所能处理的管状试样（2)的直径，D的单 位为mm ;r为该老化箱所能处理的管状试样（2)的半径,r的单位为mm 为用常规平板试 样老化设备处理管状试样（2)时该常...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵博，寿比南，徐彤，尹力军，
申请(专利权)人：中国特种设备检测研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11
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