本实用新型专利技术提出一种配对晶体电光Q开关的测试支架，解决了现有技术中由于电光Q开关封装简单、电极外露而引起对测试人员安全性差的问题，一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，所述支架本体内设有空腔，便于放置电光Q开关，所述顶端面上设有圆孔和2个导线插孔，所述圆孔、导线插孔分别位于所述顶端面的中心处、边缘处，所述支架本体的底端面上设有凹槽，所述凹槽的中部设有通孔，紧邻所述导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极，测试支架内部中空，电光Q开关放置在支架内部，这种四周封闭设计，避免了在测试、调节的过程中，测试人员与裸露电极的误接触，导线由圆孔引出，放入导线插孔内，并固定，避免了在调节过程中，由于导线不固定引起的晃动、接触导致的短路。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
—种配对晶体电光Q开关的测试支架
本技术涉及激光元器件的脉冲激光调Q器件领域，特别是指一种配对晶体电光Q开关的测试支架。
技术介绍
电光Q开关是激光器中非常重要的一个组成部分，电光调Q技术是利用在晶体上施加电压改变晶体的折射率，从而达到改变通过晶体激光的偏振态，与偏振片一起使用可以实现对激光的开关作用，利用了电光Q开关的脉冲激光，脉宽窄，峰值功率高。当前加工电光Q开关的晶体材料，有DKDP (磷酸二氘钾)，LN(铌酸锂)，RTP (磷酸氧钛铷)，KTP (磷酸氧钛钾)等。而针对RTP，KTP类双轴晶体制作的电光Q开关，需两片晶体配对使用，以便抵消单片晶体产生的对激光的自然双折射，通用电极封装形式如图1所示，1、2为配对使用的第一晶体、第二晶体，3为第一电极、4为第二电极，此两部分电极在电路中并联，5为两晶体的第三电极，起到固定开关，施加电压的作用，电极5的两侧底角为45°的燕尾形，6为各部分电极引出的导线，在电极的底面设有螺纹孔，用于固定配对晶体电光Q开关，晶体与电极之间通过导电胶进行粘接。此种形式的封装结构，电极和导线接头部分都裸露在外，而且电光Q开关在测试和使用过程中，施加的电压都在IkV以上，所以对测试人员的安全性影响很大。
技术实现思路
本技术提出一种配对晶体电光Q开关的测试支架，解决了现有技术中由于电光Q开关封装简单、电极外露而引起对测试人员安全性差的问题。本技术的技术方案是这样实现的:一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，所述支架本体内设有空腔，便于放置电光Q开关，所述顶端面上设有圆孔和2个导线插孔，所述圆孔、导线插孔分别位于所述顶端面的中心处、边缘处,所述支架本体的底端面上设有凹槽,所述凹槽的中部设有通孔，紧邻所述导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极。作为优选的技术方案，所述凹槽的截面呈燕尾形，且所述凹槽的侧边与底边呈45°夹角。作为优选的技术方案，紧邻所述导线插孔的所述侧端面上设有便于标准电极旋入的螺纹孔。本技术同
技术介绍
相比所产生的有益效果:测试支架内部中空，电光Q开关放置在支架内部，这种四周封闭设计，避免了在测试、调节的过程中，测试人员与裸露电极的误接触，导线由圆孔引出，放入导线插孔内，并固定，避免了测试人员的误接触，避免了在调节过程中，由于导线不固定引起的晃动、接触导致的短路。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为配对晶体电光Q开关的结构示意图；图2为本技术一种配对晶体电光Q开关的测试支架结构示意图。图中:7_支架本体；8_凹槽；9-圆孔；10_第一导线插孔；11_第二导线插孔；12-第一标准电极；13_第二标准电极；14_通孔。【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如图2所示，一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体7，支架本体7采用绝缘材料制成，如聚甲醛等，支架本体7设有顶端面、两侧端面、底端面，支架本体7内设有空腔，便于放置电光Q开关，顶端面上设有圆孔9和2个导线插孔，圆孔9、导线插孔分别位于顶端面的中心处、边缘处，圆孔9用于引出导线，第一导线插孔为图中10，第二导线插孔为图中11，支架本体7的底端面上设有凹槽8，凹槽8的中部设有通孔14，通孔14用于将电光Q开关固定在测试支架上，紧邻导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极，第一标准电极为图中12，第一标准电极为图中13，凹槽8的截面呈燕尾形，且凹槽的侧边与底边呈45°夹角，紧邻所述导线插孔的侧端面上设有便于标准电极旋入的螺纹孔。实际使用中，将电光Q开关的电极5插入凹槽8内，使用螺丝通过通孔14拧紧到电光Q开关的螺纹孔内，将电光Q开关的两条导线6，从圆孔9中引出，分别插入第一导线插孔10、第二导线插孔11中，导线无外皮部分全部插入孔内，将第一标准电极12、第二标准电极13旋入螺纹孔中，顶紧第一导线插孔10、第二导线插孔11内的导线，将两标准电极与外部高压电源相连，将支架本体固定在光学调整架上，放置于测试光路内，即可开始进行测试。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，其特征在于： 所述支架本体内设有空腔，便于放置电光Q开关， 所述顶端面上设有圆孔和2个导线插孔，所述圆孔、导线插孔分别位于所述顶端面的中心处、边缘处， 所述支架本体的底端面上设有凹槽，所述凹槽的中部设有通孔， 紧邻所述导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极。
【技术特征摘要】
1.一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，其特征在于: 所述支架本体内设有空腔，便于放置电光Q开关， 所述顶端面上设有圆孔和2个导线插孔，所述圆孔、导线插孔分别位于所述顶端面的中心处、边缘处， 所述支架本体的底端面上设有凹槽，所述凹槽的中部设有通孔， ...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵海泉，贾玉昌，王世武，
申请(专利权)人：青岛海泰光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。