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本实用新型提出一种配对晶体电光Q开关的测试支架，解决了现有技术中由于电光Q开关封装简单、电极外露而引起对测试人员安全性差的问题，一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，所述支架本体内设有空腔...
该专利属于青岛海泰光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过青岛海泰光电技术有限公司授权不得商用。

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