一种抗干扰汞蒸气测量装置制造方法及图纸

技术编号:10326274 阅读:188 留言:0更新日期:2014-08-14 12:44
本实用新型专利技术公开了一种抗干扰汞蒸气测量装置,汞灯光源设置在两个永磁体之间,凸透镜位于汞灯光源正上方,在凸透镜上方设有空心轴电机,空心轴电机下端的输出轴与泰勒棱镜相连,空心轴电机上端的输出轴与两个相位检测装置相连,半透半反真空镀膜镜位于两个相位检测装置的上方,两个光电检测器分别位于半透半反真空镀膜镜的上方和侧面,其中侧面光电检测器与半透半反真空镀膜镜之间设有管状吸收室。本实用新型专利技术解决了固体样品热释时释放出成分复杂的气体进入仪器光学吸收池中,引起强烈的光学干扰问题,实现高精度扣背景检测汞浓度的含量,有效提高汞蒸气测量的准确性。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
一种抗干扰录蒸气测量装置
:本技术涉及汞蒸气测量装置
,具体为一种抗干扰汞蒸气测量装置
技术介绍
:汞是一种在自然界中分布极广的剧毒性微量元素,它具有挥发性和积累性,固体样品热释时,会释放出成分复杂的气体进入仪器光学吸收池中,引起强烈的光学干扰。目前,国内外用于检测汞时克服气体干扰的技术有三种:1、金汞齐技术,即用金丝捕汞管对样品气体中的汞蒸气进行选择性吸收,从而与其它干扰气体分离,然后再热解金丝捕汞管进行分析,缺点是使用贵金属费用较高;2、利用同位素汞灯光源的纵向塞曼效应技术,同位素汞灯光源在磁场中亦按磁力方向分为两个偏振光,利用其中一个进行分析,另一个扣除背景,缺点是汞灯源制作很困难;3、干扰气体的化学选择性表面吸附技术,即在仪器进气口前方加入化学吸附剂除去,方法简单,但是试剂一般为强氧化剂和强碱,使用和保存非常困难,而且还有易污染、腐蚀和易爆的缺陷。因此,急需一种去除复杂气体干扰的抗干扰汞蒸气测量装置。
技术实现思路
:本技术的目的就是针对上述现有技术的不足,提供一种抗干扰汞蒸气测量装置,提高仪器稳定性,剔除样品中少量的二氧化硫、二氧化碳、水蒸气等干扰,提高本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种抗干扰汞蒸气测量装置,其特征在于,包括汞灯光源、两个永磁体、凸透镜、泰勒棱镜、空心轴电机、两个相位检测装置、半透半反真空镀膜镜、两个光电检测器,汞灯光源设置在两个永磁体之间,凸透镜位于汞灯光源正上方,在凸透镜上方设有空心轴电机,空心轴电机上下两端均设有输出轴,空心轴电机下端的输出轴与泰勒棱镜相连,空心轴电机上端的输出轴与两个相位检测装置相连,半透半反真空镀膜镜位于两个相位检测装置的上方,两个光电检测器分别位于半透半反真空镀膜镜的上方和侧面,其中侧面光电检测器与半透半反真空镀膜镜之间设有管状吸收室,管状吸收室两端通过透紫外石英片封闭,光电检测器均同调理检测电路相连,调理检测电路通过依次连接的...

【技术特征摘要】
1.一种抗干扰汞蒸气测量装置,其特征在于,包括汞灯光源、两个永磁体、凸透镜、泰勒棱镜、空心轴电机、两个相位检测装置、半透半反真空镀膜镜、两个光电检测器,汞灯光源设置在两个永磁体之间,凸透镜位于汞灯光源正上方,在凸透镜上方设有空心轴电机,空心轴电机上下两端均设有输出轴,空心轴电机下端的输出轴与泰勒棱镜相连,空心轴电机上端的输出轴与两个相位检测装置相连,半透半反真空镀膜镜位于两个相位检测装置的上方,两个光电检测器分别位于半透半反真空镀膜镜的上方和侧面,其中侧面光电检测器与半透半...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏建山邢铁增窦智周海涛刘华忠李荣春
申请(专利权)人:廊坊开元高技术开发公司
类型:新型
国别省市:河北;13

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