一种基于孔径编码技术的射线散射成像系统技术方案

一种基于孔径编码技术的射线散射成像系统，包括射线源、前准直器、阵列探测器、孔径编码掩模、信号处理器、控制器和移动装置，前准直器设置于射线源与被测物间，与射线源相对静止，将射线源的射线准直成一射线束；阵列探测器的中心法线面与射线束的交线为扫描线；孔径编码掩模为一维孔径编码掩模，由多个编码单元排列而成，置于阵列探测器与被测物之间，与阵列探测器相对静止；信号处理器将阵列探测器获得的模拟信号转为数字信号；控制器对数字信号重组解码，获得扫描线上各个体素对应的散射图像；移动装置使射线源与阵列探测器作为一个整体与被测物发生相对移动。本发明专利技术集成现有技术优点，又不会大幅减低散射射线透过率，具有高信噪比。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及图像检测
，尤其涉及一种基于孔径编码技术的射线散射成像系统。
技术介绍
X射线散射成像技术(以下简称散射成像)是一种基于康普顿散射效应的新型非侵入性成像技术。它和传统的透射成像技术在成像原理，装置安排，适用目标上有明显区别。传统的透射成像是通过透射射线的强弱来获取被测物体于透射方向的总衰减系数，得到物体图像。它的射线源与探测器必须分别置于样品两侧，它对衰减系数大的物质(如重金属)比对衰减系数小的物质(如有机物)更敏感，图像空间分辨好。而散射成像是通过散射射线的强弱以获取被测物体于散射方向的散射截面得到物体图像。它的射线源与探测器位置摆放灵活，尤其是可以同时放置于被测物体同侧，射线无需完全穿透被测物体，适合地下、墙体内部的检测和厚重大块物体的检测。散射成像对散射截面大的物质(如有机物)比对散射截面小的物质(如重金属)更敏感，图像对比度高。因此散射成像与透射成像作为一对互补的成像技术，在工业探伤、国防安检、埋藏物本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于孔径编码技术的射线散射成像系统，其特征在于，该射线散射成像系统包括射线源、前准直器、阵列探测器、孔径编码掩模、信号处理器、控制器和移动装置，以对被测物进行成像；该前准直器，设置于该射线源与该被测物之间，该前准直器与该射线源相对静止，并将该射线源发射的射线准直成一射线束；该阵列探测器，该阵列探测器的中心法线面与该射线束的交线为扫描线，该中心法线面与该射线束的射线面所成的二面角为散射角；该孔径编码掩模为一维孔径编码掩模，由多个编码元素排列而成，该孔径编码掩模置于该阵列探测器与该被测物之间，与该阵列探测器相对静止；该信号处理器，将该阵列探测器获得的模拟信号转换为数字信号；该控制器对该数字信号...

【技术特征摘要】
1.一种基于孔径编码技术的射线散射成像系统，其特征在于，该射线散
射成像系统包括射线源、前准直器、阵列探测器、孔径编码掩模、信号处理
器、控制器和移动装置，以对被测物进行成像；
该前准直器，设置于该射线源与该被测物之间，该前准直器与该射线源
相对静止，并将该射线源发射的射线准直成一射线束；
该阵列探测器，该阵列探测器的中心法线面与该射线束的交线为扫描线，
该中心法线面与该射线束的射线面所成的二面角为散射角；
该孔径编码掩模为一维孔径编码掩模，由多个编码元素排列而成，该孔
径编码掩模置于该阵列探测器与该被测物之间，与该阵列探测器相对静止；
该信号处理器，将该阵列探测器获得的模拟信号转换为数字信号；
该控制器对该数字信号重组解码，获得该扫描线上各个体素对应的散射
图像；
该移动装置使该射线源与该阵列探测器作为一个整体与该被测物发生相
对移动。
2.根据权利要求1所述的射线散射成像系统，其特征在于，该孔径编码
掩模至少包括对射线阻止能力不同的两类编码元素。
3.根据权利要求2所述的射线散射成像系统，其特征在于，该阵列探测
器的有效探测单元的数目...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏龙，刘彦韬，章志明，李道武，帅磊，王宝义，马创新，黄先超，柴培，唐浩辉，李婷，王英杰，庄凯，王晓明，朱美玲，姜小盼，张译文，周魏，孙世峰，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11