一种零件质量缺陷检测仪及利用该检测仪进行检测的方法技术

本发明专利技术涉及机械零件检测领域，特别涉及一种零件质量缺陷检测仪及利用该检测仪进行检测的方法。它由PLC控制系统控制各步进电机的运行，带动检测仪上的激光传感器扫描零件，向PLC控制系统传递数据，并将收集到的数据传递给计算机，由计算机将扫描到的数据与计算机数据库中标准零件的数据进行误差对比分析，检测出不合格的零件。本发明专利技术结构简单，使用方便，成本低，自动化程度高，不用接触机器零件就可以将有缺陷的零件检测出来，非常方便。

【技术实现步骤摘要】
（一）      
本专利技术涉及机械零件检测领域，特别涉及一种零件质量缺陷检测仪及利用该检测仪进行检测的方法。 （二）      
技术介绍
在机械零部件生产过程中，零件尺寸测量及其质量检测占有重要地位，而传统的测量方法有利用千分尺、游标卡尺或量规等进行测量，或者用物理方法测量，如压电转换测量，利用霍尔元件进行测量等。这些测量大都是测量装置与被测物体直接相接触，但有些被测量零件不易与测量装置接触或接触后测量精度不高或者被测零件为辐射体、高温物体而且有些零件只需要检测某些关键部位，这时传统测量方法的局限性就显现出来了。而国内外CCD激光测量仪等设备价格高，因此，需要提出一种非接触式的能够检测零件关键点位的经济型检测仪。 （三）      
技术实现思路
    本专利技术为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种结构简单、价格低廉、不用接触被检零件即可进行检测的零件质量缺陷检测仪，同时提供了采用该检测仪进行检测的方法。 本专利技术是通过如下技术方案实现的： 一种零件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种零件质量缺陷检测仪，其特征是，包括X轴滑轨（1），所述X轴滑轨（1）一侧连接有零件放置台（2），所述X轴滑轨（1）上设有X轴丝杠（3），所述X轴丝杠（3）上套有X轴滑块（9），所述X轴丝杠（3）的一端连接X轴步进电机（4），所述X轴滑轨（1）左端从内至外依次设有X轴左接近开关（5）和X轴左行程开关（6），所述X轴滑轨（1）右端从内至外依次设有X轴右接近开关（7）和X轴右行程开关（8），所述X轴滑块（9）上设有平行的Y轴丝杠（10）和Y轴滑轨（11），所述Y轴滑轨（11）设有套在Y轴丝杠（10）上的Y轴滑块（14），所述Y轴丝杠（10）的顶端连接Y轴步进电机（13），所述Y轴滑轨（11）的上...

【技术特征摘要】
1.一种零件质量缺陷检测仪，其特征是，包括X轴滑轨（1），所述X轴滑轨（1）一侧连接有零件放置台（2），所述X轴滑轨（1）上设有X轴丝杠（3），所述X轴丝杠（3）上套有X轴滑块（9），所述X轴丝杠（3）的一端连接X轴步进电机（4），所述X轴滑轨（1）左端从内至外依次设有X轴左接近开关（5）和X轴左行程开关（6），所述X轴滑轨（1）右端从内至外依次设有X轴右接近开关（7）和X轴右行程开关（8），所述X轴滑块（9）上设有平行的Y轴丝杠（10）和Y轴滑轨（11），所述Y轴滑轨（11）设有套在Y轴丝杠（10）上的Y轴滑块（14），所述Y轴丝杠（10）的顶端连接Y轴步进电机（13），所述Y轴滑轨（11）的上端从上至下依次设有Y轴上行程开关（15）和Y轴上接近开关（16），所述Y轴滑轨（11）的下端从上至下依次设有Y轴下接近开关（17）和Y轴下行程开关（18），所述Y轴滑块（9）上设有开口向下的框架（19），框架（19）上设有激光传感器（20），所述框架（19）和零件放置台（2）位于X轴滑轨（1）的同一侧；...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鹏，周晓孟，
申请(专利权)人：齐鲁工业大学，
类型：发明
国别省市：山东;37