检测装置制造方法及图纸

技术编号:10307240 阅读:125 留言:0更新日期:2014-08-08 10:13
本发明专利技术公开了检测装置,包括锥套塞规、锥体规、钢球、等高垫以及测量等高的标准量块;工作时,将锥套摆放在等高垫上,锥套塞规的倒锥端安放在锥套里,锥体规与锥套塞规的配合精度不小于95%,再把钢球安放在锥套塞规另一端套的定位孔内,然后用百分表粗检,用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。所述锥套塞规、锥体规材料为T10A,热处理C62,锥面粗糙度Ra=0.4μm。所述锥套塞规、锥体规两端面均倒角。所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。本发明专利技术操作简单,结构合理,使用方便,能同时检测接触精度和等高尺寸精度,缩短了检测时间,提高了劳动效率和经济效益。

【技术实现步骤摘要】
检测装置
[0001 ] 本专利技术涉及机械制造领域,尤其涉及一种用于检测定位锥锥套的检测装置。
技术介绍
定位锥是用于加工中心滑板交换工作台上的关键零部件,是保证机床精度的关键环节。如图1、图2所示,定位锥每套由4个锥体和8个锥套组成,要求工作台在每次交换或自身转位时的等高精度都在0.015mm内。所以说,定位锥的技术问题关键是接触精度和等高尺寸精度。一般锥体和锥套常规检测法是接触精度用检测规涂色法检查,大小端尺寸精度是以检测规的通止刻线为标准。而定位锥除接触精度用涂色法外,等高精度用通止刻线检查是根本行不通的。
技术实现思路
针对上述存在的技术问题,本专利技术的目的是:提出了一种结构简单、合理,使用方便,能同时检测定位锥锥套的接触精度和等高尺寸精度的检测装置。本专利技术的技术解决方案是这样实现的:本专利技术的检测装置,包括锥套塞规、锥体规、钢球、等高垫以及测量等高的标准量块;工作时,将锥套摆放在等高垫上,锥套塞规的倒锥端安放在锥套里,锥体规与锥套塞规的配合精度不小于95%,再把钢球安放在锥套塞规另一端套的定位孔内,然后用百分表粗检,用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。进一步的,所述锥套塞规、锥体规材料为T10A,热处理C62,锥面粗糙度Ra=0.4 μ m。进一步的,所述锥套塞规、锥体规两端面均倒角。进一步的,所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。由于上述技术方案的运用,本专利技术与现有技术相比具有下列优点: 本专利技术所述的检测装置,操作简单,结构合理,使用方便,能同时检测接触精度和等高尺寸精度,缩短了检测时间,提高了劳动效率和经济效益。【附图说明】下面结合附图对本专利技术技术方案作进一步说明: 图1是加工工件结构示意图。图2是加工工件左视图。图3是本专利技术锥体规、锥套塞规结构示意图。图4是本专利技术测量工件时结构示意图。1、平台2、等高垫3、锥体规4、锥套塞规5、钢球6、标准量块7、百分表8、锥套9、定位孔10、锥体。【具体实施方式】下面结合附图来说明本专利技术。如图3、4所示,本专利技术采用了检测装置,包括锥套塞规4、锥体规3、钢球5、等高垫2以及测量等高的标准量块6。工作时,将锥套8摆放在等高垫2上。锥套塞规4的倒锥端安放在锥套8里。锥体规3与锥套塞规4的配合精度不小于95%。再把钢球5安放在锥套塞规4另一端套的定位孔9内。然后用百分表7粗检。用与检测高度相等的标准量块6确定百分表7位置。本专利技术所述锥套塞规4、锥体规3材料优选为T10A,热处理C62,锥面粗糙度Ra=0.4 μ m。本专利技术所述锥套塞规4、锥体规3两端面均倒角。本专利技术所述等高垫2上下面平行度就不大于0.005mm。热处理后用精密平面磨床磨削。工作时,在平台上将定位锥的锥套8摆放在事先准备好的等高垫2上,用手轻轻将锥套塞规4安放在被检查的锥套8上,然后,再将事先准备好的钢球5放在锥套塞规4的定位孔内,用百分表7粗检,确定读数,然后再用千分表分别确定四件定位锥锥套8的等高尺寸。检查时,需先用百分表7通检一下,选出一个最小尺寸的定位锥做为本组的基准尺寸,然后用千分表确定定位锥的±0.005mm尺寸。为防止百分表7或千分表移动,平台上标准量块7,高度和百分表7相同。另外,每次更换被检锥套8时,因全部是手工操作,所以,当每次更换时,一定要轻拿轻入,完全保证以上三件检具牢牢地安放在固定位置上。以上仅是本专利技术的具体应用范例,对本专利技术的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案,均落在本专利技术权利保护范围之内。上述实施例只为说明本专利技术的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本专利技术的内容并加以实施,并不能以此限制本专利技术的保护范围,凡根据本专利技术精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本专利技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置,其特征在于:包括锥套塞规、锥体规、钢球、等高垫以及测量等高的标准量块;工作时,将锥套摆放在等高垫上,锥套塞规的倒锥端安放在锥套里,锥体规与锥套塞规的配合精度不小于95%,再把钢球安放在锥套塞规另一端套的定位孔内,然后用百分表粗检,用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。

【技术特征摘要】
1.一种检测装置,其特征在于:包括锥套塞规、锥体规、钢球、等高垫以及测量等高的标准量块;工作时,将锥套摆放在等高垫上,锥套塞规的倒锥端安放在锥套里,锥体规与锥套塞规的配合精度不小于95%,再把钢球安放在锥套塞规另一端套的定位孔内,然后用百分表粗检,用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。2...

【专利技术属性】
技术研发人员:程鸿林姚海波
申请(专利权)人:苏州博讯仪器有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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