SVID数据测试系统及方法技术方案

技术编号:10305585 阅读:353 留言:0更新日期:2014-08-08 02:59
本发明专利技术提供一种SVID数据测试系统及方法,该SVID数据测试系统把待测主板的SVID信号解析为9位实值的并行信号,接着把9位实值的并行信号转换为串行信号传输到显示装置,显示装置依序显示各个串行信号,从而用户可根据依序显示的各个串行信号很直观的判断待测主板的供电测试情况,大大方便了用户。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种SVID数据测试系统及方法,该SVID数据测试系统把待测主板的SVID信号解析为9位实值的并行信号,接着把9位实值的并行信号转换为串行信号传输到显示装置,显示装置依序显示各个串行信号,从而用户可根据依序显示的各个串行信号很直观的判断待测主板的供电测试情况,大大方便了用户。【专利说明】SVID数据测试系统及方法
本专利技术涉及测试领域,尤其是一种SVID数据测试系统及方法。
技术介绍
SVID (serial voltage identification)总线协议是用于电源管理之控制数据传输,典型的应用是在电压控制。SVID总线协议分析提供用户检视信号在传输时之各项数据,目前在测试SVID总线时主要使用示波器看检视信号的波形来侦测,然而,三个波形才代表一位信号,对于SVID信号共包括9位,所以要从示波器的波形来看SVID总线的侦测情况用户必须通过复杂的计算才能获得,这是很麻烦的。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种SVID数据测试系统,该SVID数据测试系统应用于一测试装置,该测试装置连接一待测主板和一显示装置,该测试装置通过并行接口与待测主板连接及通过串行接口与显示装置连接,该待测主板产生SVID数据到测试装置测试,该显示装置用于显示信息,该系统包括:接收模块,用于接收待测主板的SVID信号;解析模块,用于按照SVID协议对接收到的SVID信号进行解析得到该SVID信号的9位实值;并行编码模块,用于对9位实值进行并行编码得到9位并行信号;转换模块,用于把该9位并行信号转换为串行信号;串行传输模块,用于依序传输转换后的串行信号到串行接口 ;及显示控制模块,用于控制把串行接口的串行信号传输到显示装置及发送一显示指令到显示装置显示各个串行信号。还有必要提供一种SVID数据的测试方法,该测试方法应用于一测试装置,该测试装置连接一待测主板和一显示装置,该测试装置通过并行接口与待测主板连接及通过串行接口与显示装置连接,该待测主板产生SVID数据到测试装置测试,该方法包括以下步骤:接收待测主板的SVID信号;按照SVID协议对接收到的SVID信号进行解析得到该SVID信号的9位实值;对9位实值进行并行编码得到9位并行信号;把该9位并行信号转换为串行信号;依序传输转换后的串行信号到串行接口 ;及控制把串行接口的串行信号传输到显示装置及发送一显示指令到显示装置显示各个串行信号。本专利技术的SVID数据测试系统把待测主板的SVID信号解析为9位实值的并行信号,接着把9位实值的并行信号转换为串行信号传输到显示装置,显示装置依序显示各个串行信号,从而用户可根据依序显示的各个串行信号很直观的判断待测主板的供电测试情况,大大方便了用户。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术SVID数据测试系统较佳实施例的运行环境图。图2是图1中SVID数据测试系统的功能模块图。图3是本专利技术SVID数据的测试方法较佳实施例的流程图。主要元件符号说明【权利要求】1.一种SVID数据测试系统,该SVID数据测试系统应用于一测试装置,该测试装置连接一待测主板和一显示装置,该测试装置通过并行接口与待测主板连接及通过串行接口与显示装置连接,该待测主板产生SVID数据到测试装置测试,该显示装置用于显示信息,其特征在于,该系统包括: 接收模块,用于接收待测主板的SVID信号; 解析模块,用于按照SVID协议对接收到的SVID信号进行解析得到该SVID信号的9位实值; 并行编码模块,用于对9位实值进行并行编码得到9位并行信号; 转换模块,用于把该9位并行信号转换为串行信号; 串行传输模块,用于依序传输转换后的串行信号到串行接口;及显示控制模块,用于控制把串行接口的串行信号传输到显示装置及发送一显示指令到显示装置显示各个串行信号。2.如权利要求1所述的SVID数据测试系统,其特征在于,解析模块为复杂可编程逻辑器件。3.如权利要求2所述的SVID数据测试系统,其特征在于,解析模块为EPM570T100C5N-H-* I I心/T O4.如权利要求1所述的SVID数据测试系统,其特征在于,串行信号为USB信号,串行接口为USB接口。5.一种SVID数据的测试方法,该测试方法应用于一测试装置,该测试装置连接一待测主板和一显示装置,该测试装置通过并行接口与待测主板连接及通过串行接口与显示装置连接,该待测主板产生SVID数据到测试装置测试,其特征在于,该方法包括以下步骤: 接收待测主板的SVID信号; 按照SVID协议对接收到的SVID信号进行解析得到该SVID信号的9位实值; 对9位实值进行并行编码得到9位并行信号; 把该9位并行信号转换为串行信号; 依序传输转换后的串行信号到串行接口 ;及 控制把串行接口的串行信号传输到显示装置及发送一显示指令到显示装置显示各个串行信号。6.如权利要求5所述的SVID数据的测试方法,其特征在于,串行信号为USB信号,串行接口为USB接口。【文档编号】G01R13/00GK103969482SQ201310035995【公开日】2014年8月6日 申请日期:2013年1月30日 优先权日:2013年1月30日【专利技术者】李圣义 申请人:鸿富锦精密电子(天津)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SVID数据测试系统,该SVID数据测试系统应用于一测试装置,该测试装置连接一待测主板和一显示装置,该测试装置通过并行接口与待测主板连接及通过串行接口与显示装置连接,该待测主板产生SVID数据到测试装置测试,该显示装置用于显示信息,其特征在于,该系统包括:接收模块,用于接收待测主板的SVID信号;解析模块,用于按照SVID协议对接收到的SVID信号进行解析得到该SVID信号的9位实值;并行编码模块,用于对9位实值进行并行编码得到9位并行信号;转换模块,用于把该9位并行信号转换为串行信号;串行传输模块,用于依序传输转换后的串行信号到串行接口;及显示控制模块,用于控制把串行接口的串行信号传输到显示装置及发送一显示指令到显示装置显示各个串行信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李圣义
申请(专利权)人:鸿富锦精密电子天津有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:天津;12

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