【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种光测量装置,其特征在于,具有:光源,出射激光;光分支部,将所述激光分支为第1光束和第2光束;透镜,将所述第1光束作为信号光向测定对象聚光照射;光反射部,将所述第2光束不向测定对象照射而作为参照光反射;扫描部,至少在光轴方向上扫描所述第1光束的聚光位置;干涉光学系统,将通过测定对象反射或散射的信号光与所述参照光合波,生成相位关系互不相同的三个以上的干涉光;以及多个光检测器,检测所述干涉光。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:大泽贤太郎,渡辺康一,富田大辅,
申请(专利权)人:日立视听媒体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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