外置式数据粉碎及存储设备再生设备以及方法技术

本发明专利技术公开了外置式数据粉碎及存储设备再生设备以及方法，所述再生设备包括机壳以及设置在机壳内的主板、硬盘一、硬盘二；所述硬盘一是本再生设备的系统硬盘，其与主板相连；硬盘二安装有专用维修系统，负责处理目标电脑内置存储设备的维修；所述机壳上设置有用于接收目标存储设备的对外接口模块。所述方法包括：接收目标存储设备，对目标存储设备进行CMOS检测、固件信息检测、盘面品质检测以及对盘面品质正常的目标存储设备的磁盘进行整理以及优化。本发明专利技术可对多种存储设备进行数据粉碎及实现存储设备再生的自动化，操作简单、快捷、高效。

【技术实现步骤摘要】
外置式数据粉碎及存储设备再生设备以及方法
本专利技术涉及外置式数据粉碎及存储设备再生设备以及方法。
技术介绍
随着手机、MP4、电脑等诸多电子产品的日渐普及，由此带来的电子垃圾污染问题也日益严重。而在每年产生的巨量的电子垃圾中，有近七成的存储设备是可以进行回收并循环再生利用的，这些可循环利用的存储设备具体包括:台式电脑硬盘、笔记本硬盘、服务器硬盘、固态硬盘、U盘、数码相机存储卡、智能手机内存卡、MP4内存卡等等。另外，对于一些物理损坏的存储设备，如存在坏道的硬盘，也能通过再生处理进行修复，使其不至于报废。然而，目前还没有一种很好的工具能对废弃的存储设备进行可靠性检测、数据粉碎以及再生修复，修复过程复杂，再生成本高，进而限制了存储设备的回收利用率。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种外置式数据粉碎及存储设备再生设备以及方法，用于实现数据粉碎及存储设备再生过程的自动化。本专利技术采用的技术方案是: 外置式数据粉碎及存储设备再生设备，包括机壳以及设置在机壳内的主板、硬盘一、硬盘二，其中硬盘一是本再生设备的系统硬盘，其与主板相连；硬盘二安装有专用维修系统，负责处理目标电脑内置存储设备的维修；所述机壳上设置有用于接收目标存储设备的对外接口模块，所述对外接口模块包括目标电脑连接端口、目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口 ；所述目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口与主板相连，所述目标电脑连接端口与硬盘二相连；还包括按键模块和显示模块，所述按键模块和显示模块分别与主板相连。本专利技术还提供了的外置式数据粉碎及存储设备再生方法，所述方法包括: (1)接收目标存储设备，对目标存储设备进行CMOS检测，检测结果显示在显示模块上，分三种情况: (1.0正常识别，直接进入步骤(2)； (1.2)无法识别且一直停留在CMOS检测画面，则进行逻辑锁解锁，解锁成功后进入步骤(2)，若解锁不成功，则进行深度再生处理； (1.3)无法识别且一直停留在DOS画面，则需要进行深度再生处理； (2)对目标存储设备进行固件信息检测，检测通过后，对目标存储设备进行数据粉碎；若检测不通过，进行深度再生处理； (3)对完成数据粉碎的目标存储设备进行盘面品质检测，具体方法是检测目标存储设备的每个扇区进行读写测试时的时间反馈值，检测结果分以下三种情况: (3.1)所有逻辑块地址LBA值的时间反馈值均小于150毫秒，表示盘面品质正常；(3.2)部分逻辑块地址LBA值的时间反馈值在150毫秒至500毫秒的区间内，表示存在危险磁道，需进入危险磁道再生流程，再生后重新进行盘面品质检测，若通过，进入步骤(4);若不通过，调整超时设置进行深度清零，若深度清零后还不通过盘面品质检测，则进行深度再生处理； (3.3)部分逻辑块地址LBA值的时间反馈值在500毫秒以上，表示存在损坏磁道，进入损坏磁道再生流程，再生后重新进行盘面品质检测，若通过，则进入步骤(4);若不通过，调整参数进行深度清零，若深度清零后还不通过盘面品质检测，则进行深度再生处理；(4)对盘面品质正常的目标存储设备的磁盘进行整理以及优化，以提高磁盘的读写速度。进一步，步骤(I)中接收存储设备后，还包括根据所连接的对外接口模块的端口，选择工作模式。进一步，步骤(3.2)所述的危险磁道再生流程具体包括: 对于只有危险磁道且数量少于50个的目标存储设备进行坏道擦除； 对于只有危险磁道且数量大于50个的目标存储设备进行清零。进一步，步骤(3.3)所述的损坏磁道再生流程具体包括: 对于扇区前面部分正常，但从某一逻辑块地址LBA值开始，后面的扇区全是损坏磁道，即具有前好后坏问题的目标存储设备进行手动降容处理； 对于没有前好后坏问题，但有损坏磁道且数量少于50个的目标存储设备进行坏道屏蔽； 对于没有前好后坏问题，但有损坏磁道且数量大于50个的目标存储设备进行清零。进一步，所述深度再生处理具体包括更换电路板、更换电路板接口、更换磁头、更换电机、重写ROM、消减磁头数、修复固件、指令修复LBA=0、解除固件锁、重建译码表、处理增长缺陷表和永久缺陷表、硬盘密码解锁、磁盘降容、降密度、降速、优化后的SF自校修复。综上所述，本专利技术的有益效果是: (1)目标硬盘免拆卸，能通过USB线与目标电脑进行通讯连接，对目标电脑内置的硬盘存储设备进行数据粉碎或者再生； (2)再生过程完全自动化，技术要求低，可免去技术人员繁琐的操作；通过按键模块可输入控制指令，直接操作，简单快捷； (3)通过本再生设备能对存储设备进行手动降容，封闭坏道区域，确保再生之后，用户无法使用到坏道的位置。【附图说明】以下结合附图和实例对本专利技术作进一步说明。图1是本专利技术的外置式数据粉碎及存储设备再生设备的结构示意图； 图2是本专利技术的外置式数据粉碎及存储设备再生方法的流程示意图。【具体实施方式】参照图1，本专利技术的外置式数据粉碎及存储设备再生设备，包括机壳以及设置在机壳内的主板、硬盘一、硬盘二，其中硬盘一是本再生设备的系统硬盘，其与主板相连；硬盘二安装有专用维修系统，负责处理目标电脑内置存储设备的维修；所述机壳上设置有用于接收目标存储设备的对外接口模块，所述对外接口模块包括目标电脑连接端口、目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口 ；所述目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口与主板相连，所述目标电脑连接端口与硬盘二相连；还包括按键模块和显示模块，所述按键模块和显示模块分别与主板相连。针对各种接口存储设备，本专利技术的对外接口模块设置有多种连接端口，其中目标电脑连接端口可通过数据线与目标电脑连接，利用特殊的专用维修系统直接对目标电脑内置的硬盘存储设备进行维修，达到免开箱拆卸的目的；目标硬盘连接端口用于接收普通硬盘；目标USB存储设备连接端口用于接收移动硬盘等USB存储设备；C0M接口用于与硬盘建立基于串行数据的传输模式，构建深度再生通道，以对硬盘进行底层操作。本专利技术的再生设备适用于对发生初级再生故障的存储设备进行初级再生，可初级再生的故障内容包括读写慢、无法分区、无法格式化、无法安装系统、零磁道损坏、危险磁道、坏磁道、逻辑锁、降容等等，初级再生的维修方法包括解锁、定位再生增长缺陷表、硬盘清零、降容。参照图2，本专利技术的外置式数据粉碎及存储设备再生方法，所述方法包括: (1)接收目标存储设备，对目标存储设备进行CMOS检测，检测结果显示在显示模块上，分三种情况: (1.0正常识别，直接进入步骤(2)； (1.2)无法识别且一直停留在CMOS检测画面，则进行逻辑锁解锁，解锁成功后进入步骤(2)，若解锁不成功，则进行深度再生处理； (1.3)无法识别且一直停留在DOS画面，则需要进行深度再生处理； (2)对目标存储设备进行固件信息检测，检测通过后，对目标存储设备进行数据粉碎；若检测不通过，进行深度再生处理； (3)对完成数据粉碎的目标存储设备进行盘面品质检测，具体方法是检测目标存储设备的每个扇区进行读写测试时的时间反馈值，检测结果分以下三种情况: (3.1)所有逻辑块地址LBA(Logical Block Address)值的时本文档来自技高网...

【技术保护点】
外置式数据粉碎及存储设备再生设备，其特征在于：包括机壳以及设置在机壳内的主板、硬盘一、硬盘二，其中硬盘一是本再生设备的系统硬盘，其与主板相连；硬盘二安装有专用维修系统，负责处理目标电脑内置存储设备的维修；所述机壳上设置有用于接收目标存储设备的对外接口模块，所述对外接口模块包括目标电脑连接端口、目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口；所述目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口与主板相连，所述目标电脑连接端口与硬盘二相连；还包括按键模块和显示模块，所述按键模块和显示模块分别与主板相连。

【技术特征摘要】
1.外置式数据粉碎及存储设备再生设备，其特征在于:包括机壳以及设置在机壳内的主板、硬盘一、硬盘二，其中硬盘一是本再生设备的系统硬盘，其与主板相连；硬盘二安装有专用维修系统，负责处理目标电脑内置存储设备的维修；所述机壳上设置有用于接收目标存储设备的对外接口模块，所述对外接口模块包括目标电脑连接端口、目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口 ；所述目标硬盘连接端口、目标USB存储设备连接端口、COM接口与主板相连，所 述目标电脑连接端口与硬盘二相连；还包括按键模块和显示模块，所述按键模块和显示模块分别与主板相连。2.一种应用权利要求1所述设备的外置式数据粉碎及存储设备再生方法，其特征在于，所述方法包括: (1)接收目标存储设备，对目标存储设备进行CMOS检测，检测结果显示在显示模块上，分三种情况: (1.0正常识别，直接进入步骤(2)； (1.2)无法识别且一直停留在CMOS检测画面，则进入逻辑锁解锁流程，解锁成功后进入步骤(2)，若解锁不成功，则进行深度再生处理； (1.3)无法识别且一直停留在DOS画面，则需要进行深度再生处理； (2)对目标存储设备进行固件信息检测，检测通过后，对目标存储设备进行数据粉碎；若检测不通过，进行深度再生处理； (3)对完成数据粉碎的目标存储设备进行盘面品质检测，具体方法是检测目标存储设备的每个扇区进行读写测试时的时间反馈值，检测结果分以下三种情况: (3.1)所有逻辑块地址LBA值的时间反馈值均小于150毫秒，表示盘面品质正常； (3.2)部分逻辑块地址LBA值的时间反馈值在150毫秒至500毫秒的区间内，表示存在危险磁道，需进入危险磁道再生流程，再生后重新进行盘面品质检测，若通过，进入步骤(4);若不通过，调整参数进行深...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡杨毅，蔡杰，莫小丽，
申请(专利权)人：江门市未来之星网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44