本发明专利技术公开了一种具有背光的装置的亮度测量方法及系统，该亮度测量方法由控制装置测量由待测装置的背光模块提供背光的图例，包括：开启待测装置外部的均匀光源以照射待测装置；指示提取被均匀光源照射的待测装置的影像为基准影像并接收基准影像；辨识基准影像中待测图例的完整图样；关闭均匀光源并开启待测装置的背光，以使背光光源照射待测装置的图例；指示提取背光光源照射的待测装置的影像为对照影像并接收对照影像，对照影像的影像范围与基准影像重叠；以及对对照影像当中与完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算，以获得待测图例的背光亮度。本发明专利技术可避免因背光照射不均匀而误将图例当中亮度较低的部分误判为背景。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种具有背光的装置的亮度测量方法及系统，该亮度测量方法由控制装置测量由待测装置的背光模块提供背光的图例，包括：开启待测装置外部的均匀光源以照射待测装置；指示提取被均匀光源照射的待测装置的影像为基准影像并接收基准影像；辨识基准影像中待测图例的完整图样；关闭均匀光源并开启待测装置的背光，以使背光光源照射待测装置的图例；指示提取背光光源照射的待测装置的影像为对照影像并接收对照影像，对照影像的影像范围与基准影像重叠；以及对对照影像当中与完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算，以获得待测图例的背光亮度。本专利技术可避免因背光照射不均匀而误将图例当中亮度较低的部分误判为背景。【专利说明】具有背光的装置的亮度测量方法及系统
本专利技术涉及一种具有背光的装置的测量方法及系统，且特别涉及具有背光的装置的亮度测量方法及系统。
技术介绍
具有背光的装置提供背光以照射装置上的图例(legend)时，经常由于背光模块与电子装置的图例之间尚有线路结构遮挡，使得背光无法平均地照射到图例的每一个位置。如图1的一个背光键盘的按键图例示意图所示，由于键盘内部的电路导线可能正好通过图例“Backspace”的左侧而稍微遮蔽了后方的背光光源，因此造成“Back”四个字母的亮度稍弱于“space”五个字母。为了测量具有背光的装置以背光照明装置上的图例时的效果，现行的测量方式会拍摄受到背光照射的图例的影像，并根据影像中各像素的亮度值以及预定门槛值区分出属于图例的部分以及图例以外的部分。请参阅图2所示的示意图。图2为对应于图1所示的图例“Backspace”经拍摄并以门槛值区分后的二值影像(b1-level image)示意图。相较于图1可知，经过筛选像素亮度后所显示的画面当中，大部分像素都正确地对应图例或图例以外的背景部分，但原本对应第一与第二字母(Ba)的上半部的像素则因为亮度值过低，经筛选后被判断为图例以外的背景。因此，当使用者根据图2所示的像素来计算Backspace —字在背光照射下的亮度时，会不当地忽略掉原本属于图例部分但被视为是图例以外部分的“Ba”上半部的像素。如此一来，图例的整体亮度被高估，其中亮度不足的部分反而无法真实被反应出来，计算出的“Backspace”整体亮度即不正确。若测量出来的亮度不正确，就会影响对待测装置的结构设计或背光模块的改良。
技术实现思路
有鉴于现有测量技术的问题，本专利技术的目的在于提出一种具有背光的装置的亮度测量方法及系统，用以正确测量出具有背光的装置上的图例在背光照射下呈现出来的亮度。本专利技术实施例提供一种具有背光的装置的亮度测量方法，由控制装置测量由待测装置的背光模块提供背光的图例(legend)，所述方法包括:开启待测装置外部的均匀光源以照射待测装置；指示提取被均匀光源照射的待测装置的影像为基准影像并接收基准影像JH只基准影像中待测图例的完整图样(pattern);关闭均匀光源并开启待测装置的背光，以使背光光源照射待测装置的图例；指示提取背光光源照射的待测装置的影像为对照影像并接收对照影像，对照影像的影像范围与基准影像重叠；以及对对照影像当中与完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算，以获得待测图例的背光亮度。本专利技术的亮度测量方法，优选的，提取该对照影像后包括步骤:根据该完整图样的像素在该基准影像中的位置，辨识该对照影像中与该完整图样位置重叠的各个像素的亮度值。本专利技术的亮度测量方法，优选的，提供该均匀光源照射该待测装置之前，该待测装置被固定于一测量位置，其中，提取该基准影像及该对照影像时，该待测装置皆位于该测量位置。本专利技术的亮度测量方法，优选的，对该对照影像当中与该完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算的步骤，是计算所述多个像素的亮度值的平均值。本专利技术的亮度测量方法，优选的，辨识该完整图样的步骤中包括:根据一亮度门槛值比对该基准影像中的每一像素的亮度值；及记录该基准影像当中亮度值大于或等于该亮度门槛值的一或多个像素的位置；其中，该基准影像当中亮度值大于或等于该亮度门槛值的一或多个像素位置的集合形成该完整图样。本专利技术的亮度测量方法，优选的，指示提取该基准影像之前，包括:根据一选取范围圈选该待测装置的一部分，该选取范围中包括该待测图例；其中，该基准影像及该对照影像皆为该选取范围内的影像。本专利技术的亮度测量方法，优选的，指示提取该基准影像之前，包括:根据一选取范围圈选该待测装置的一部分，该选取范围中包括该待测图例；其中，辨识该完整图样及计算该背光亮度的步骤皆为针对该选取范围内的像素。此外，本专利技术实施例还提供一种具有背光的装置的亮度测量系统，用以测量由待测装置的背光模块提供背光的图例，所述系统包括:影像提取装置、发光装置及控制装置。影像提取装置用以提取待测装置的影像。发光装置用以提供均匀光源以照射待测装置。控制装置耦接影像提取装置、发光装置及待测装置，控制发光装置以及待测装置的背光模块开启与关闭，并控制影像提取装置在发光装置开启时提取待测装置的影像为基准影像，以及发光装置关闭且背光模块开启时提取待测装置的影像为对照影像。对照影像的影像范围与基准影像相同，控制装置辨识基准影像中待测图例的完整图样，并对对照影像当中与完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算，以获得待测图例的背光亮度。本专利技术的亮度测量系统，优选的，该亮度测量系统还包括:一暗箱装置；及一定位结构，设置于该暗箱装置当中以正对该影像提取装置，用以定位该待测装置于一测量位置，其中，该影像提取装置及该发光装置设置于该暗箱装置当中。本专利技术的亮度测量系统，优选的，该发光装置包括照明设备，该照明设备设置于该定位结构侧边或上方。本专利技术的亮度测量系统，优选的，该照明设备为探照灯、照明灯管，或发光二极管。本专利技术的亮度测量系统，优选的，该待测装置为具有背光的键盘或液晶面板。本专利技术的有益效果在于，综上所述，本专利技术实施例所提供的具有背光的装置的亮度测量方法及系统，可正确测量出待测装置的图例受背光照射时的亮度，避免因背光照射不均匀而误将图例当中亮度较低的部分误判为背景，造成亮度评估结果错误。【专利附图】【附图说明】图1:公知背光键盘部分图例示意图；图2:对应图1的图例二值化影像示意图；图3:本专利技术的一种具有背光的装置的亮度测量系统实施例的方框图；图4:本专利技术的一种具有背光的装置的亮度测量系统实施例的示意图；图5:本专利技术的一种具有背光的装置的亮度测量方法实施例的流程图；图6A:本专利技术的一个基准影像实施例的示意图 '及图6B:本专利技术的一个对照影像实施例的示意图。其中，附图标记说明如下:30亮度测量系统300控制装置302影像提取装置304发光装置3040 探照灯3042 照明灯管3044 发光二极管306暗箱装置308定位结构32待测装置320背光模块60基准影像600,600’ 待测图例602完整图样62对照影像620,622 像素624,626 像素区域S501-S517 流程步骤【具体实施方式】(系统实施例)图3绘示了本专利技术提供的一种具有背光的装置的亮度测量系统实施例的方框图。所述的亮度测量系统30包括控制装置300、影像提取装置302及发光装置304。具有背光的待测装置32则包括背光模块320。控制装置300耦接并控制影像提取本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种具有背光的装置的亮度测量方法，由一控制装置测量由一待测装置的背光模块提供背光的图例，其特征在于该方法包括步骤：开启该待测装置外部的一均匀光源以照射该待测装置；指示提取被该均匀光源照射的该待测装置的影像为一基准影像并接收该基准影像；辨识该基准影像中一待测图例的一完整图样；关闭该均匀光源并开启该待测装置的该背光，以使该背光照射该待测装置；指示提取该背光光源照射的该待测装置的影像为一对照影像并接收该对照影像，该对照影像的影像范围与该基准影像重叠；及对该对照影像当中与该完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算，以获得该图例的一背光亮度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴进发，
申请(专利权)人：光宝电子广州有限公司，光宝科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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