伏安特性测试仪制造技术

一种伏安特性测试仪，所述伏安特性测试仪包括：控制器，数模转换器，运算放大器，开关管，采样电阻，测试端口及模数转换器；所述控制器与所述数模转换器及所述模数转换器耦接，所述运算放大器的第一输入端与所述数模转换器耦接，所述运算放大器的第二输入端与所述采样电阻耦接，所述运算放大器的输出端与所述开关管的控制极耦接，所述开关管与所述测试端口及所述采样电阻串联，所述测试端口的一端与所述模数转换器耦接。采用所述伏安特性测试仪，可以有效地提高伏安特性测试的效率。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种伏安特性测试仪，所述伏安特性测试仪包括：控制器，数模转换器，运算放大器，开关管，采样电阻，测试端口及模数转换器；所述控制器与所述数模转换器及所述模数转换器耦接，所述运算放大器的第一输入端与所述数模转换器耦接，所述运算放大器的第二输入端与所述采样电阻耦接，所述运算放大器的输出端与所述开关管的控制极耦接，所述开关管与所述测试端口及所述采样电阻串联，所述测试端口的一端与所述模数转换器耦接。采用所述伏安特性测试仪，可以有效地提高伏安特性测试的效率。【专利说明】伏安特性测试仪
本技术涉及电子器件测试领域，尤其涉及一种伏安特性测试仪。
技术介绍
伏安特性是指加在电气设备或者元件两端电压和通过电流的关系，伏安特性曲线常被用来研究导体电阻的变化规律，是物理学常用的图像法之一。现有的伏安特性测试仪结构简单，但是需要手动操作测试，容易出错且效率低下。
技术实现思路
本技术实施例解决的问题是如何提高伏安特性测试的效率。为解决上述问题，本技术实施例提供一种伏安特性测试仪，包括:控制器，数模转换器，运算放大器，开关管，采样电阻，测试端口及模数转换器；所述控制器与所述数模转换器及所述模数转换器耦接，所述运算放大器的第一输入端与所述数模转换器耦接，所述运算放大器的第二输入端与所述采样电阻耦接，所述运算放大器的输出端与所述开关管的控制极耦接，所述开关管与所述测试端口及所述采样电阻串联，所述测试端口的一端与所述模数转换器耦接。可选的，所述开关管为NMOS管或PMOS管。可选的，所述开关管为NMOS管，所述测试端口的第一端与预设的正电源耦接，所述测试端口的第二端与所述开关管的第二极耦接，所述采样电阻第一端与所述开关管的第一极耦接，所述采样电阻第二端接地，所述测试端口的第二端与所述模数转换器耦接。可选的，所述开关管为NMOS管，所述开关管的第二极与所述预设的正电源耦接，所述开关管的第一极与所述测试端口的第一端耦接，所述采样电阻的第一端与所述测试端口的第二端耦接，所述采样电阻的第二端接地，所述测试端口的第一端与所述模数转换器耦接。可选的，所述开关管为PMOS管，所述采样电阻的第一端与预设的正电源耦接，所述采样电阻的第二端与所述开关管的第一极耦接，所述测试端口第一端与所述开关管的第二极耦接，所述测试端口的第二端接地，所述测试端口的第一端与所述模数转换器耦接。可选的，所述开关管为PMOS管，所述采样电阻的第一端与预设的正电源耦接，所述采样电阻的第二端与所述测试端口的第一端耦接，所述开关管的第一极与所述测试端口的第二端耦接，所述开关管的第二极接地，所述测试端口的第二端与所述模数转换器耦接。可选的，所述伏安特性测试仪还包括:与所述控制器耦接的存储器。可选的，所述存储器包括以下一种:SD卡、硬盘、EERROM、NOR Flash或NandFlash。可选的，所述伏安特性测试仪还包括:与所述控制器耦接的显示器。可选的，所述显示器包括以下一种:所述显示器包括以下一种:IXD显示器或LED显示器、OLED显示器或CRT显示器。与现有技术相比，本技术实施例的技术方案具有以下优点:通过将待测元件与测试仪的测试端口耦接，模数转换器与测试端口耦接，获取测试端口的电压值并发送给控制器，控制器控制数模转换器输出不同的电压值，并输入运算放大器的第一输入端，使得运算放大器输出相应电压，启动开关管工作，由于开关管、米样电阻和待测元件串联，则开关管、采样电阻和待测元件上的电流相等，可以通过数模转换器的输出电压值与采样电阻阻值之间的运算得到采样电阻上的电流，根据获取的测试端口的电压值，通过运算可以得到待测元件的压降，故利用压降与电流值即可得到待测元件的伏安特性。【专利附图】【附图说明】图1是本技术实施例中的一种伏安特性测试仪的装置结构示意图；图2是本技术实施例中的一种伏安特性测试仪的电路结构图；图3是本技术实施例中的另一种伏安特性测试仪的电路结构图；图4是本技术实施例中的其他一种伏安特性测试仪的电路结构图；图5是本技术实施例中的一种伏安特性测试仪的电路结构图。【具体实施方式】现有的伏安特性测试仪的结构比较简单，但是需要手动操作进行伏安特性的测试，容易出错且效率低下。针对上述问题，本技术实施例通过将待测元件与测试仪的测试端口耦接，模数转换器与测试端口耦接，获取测试端口的电压值并发送给控制器，控制器控制数模转换器输出不同的电压值，并输入运算放大器的第一输入端，使得运算放大器输出相应电压，启动开关管工作，由于开关管、采样电阻和待测元件串联，则开关管、采样电阻和待测元件上的电流相等，可以通过数模转换器的输出电压值与采样电阻阻值之间的运算得到采样电阻上的电流，根据获取的测试端口的电压值，通过运算可以得到待测元件的压降，故利用压降与电流值即可得到待测元件的伏安特性。为使本技术实施例的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施例做详细的说明。参照图1，本技术实施例提供了一种伏安特性测试仪10的结构示意图，包括:控制器101，数模转换器102，运算放大器103，开关管104，采样电阻105，测试端口 106及模数转换器107，其中:所述控制器101与所述数模转换器102及所述模数转换器107耦接，所述运算放大器103的第一输入端与所述数模转换器102耦接，所述运算放大器103的第二输入端与所述采样电阻105耦接，所述运算放大器103的输出端与所述开关管104的控制极耦接，所述开关管104与所述测试端口 106及所述采样电阻105串联，所述测试端口 106的一端与所述模数转换器107耦接。在具体实施中，可以将待测元件放置在测试端口 106内，使得待测元件可以与测试仪10耦接；控制器101可以向数模转换器102发送包含电压信息的数字信号，利用包含不同电压信息的数字信号控制数模转换器102输出不同的电压；将数模转换器102的输出电压输入到运算放大器103的第一输入端，由于米样电阻105与运算放大器103的第二输入端耦接，利用运算放大器103的“虚短”和“虚断”的特性可以得到采样电阻105上的电流，由于开关管104与测试端口 106以及采样电阻105串联，则开关管104、测试端口 106以及采样电阻105上的电流值相等。模数转换器107获取测试端口 106的电压值，并将测试端口 106的电压值输入控制器101，控制器101可以根据计算得到测试端口 106的压降；根据测试端口 106的压降和测试端口 106的电流值即可得到测试端口 106内待测元件的电压与电流的对应关系。通过控制器101控制数模转换器102输出不同的电压，可以得到多组待测元件的电压与电流的对应关系，即可得到待测元件的伏安特性。在具体实施中，所述开关管可以包括NMOS管或PMOS管。在具体实施中，如图1所示，测试端口 106、开关管104以及采样电阻105串联，但测试端口 106、开关管104以及采样电阻105的耦接方式并不仅限于图1中所述的串联耦接方式，还可以存在其他形式的耦接方式。只需要满足开关管104的控制极与运算放大器103的输出端耦接，采样电阻105与运算放大器103的第二输入端耦接，测试端口 106的一端与模数转本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种伏安特性测试仪，其特征在于，包括：控制器，数模转换器，运算放大器，开关管，采样电阻，测试端口及模数转换器；所述控制器与所述数模转换器及所述模数转换器耦接，所述运算放大器的第一输入端与所述数模转换器耦接，所述运算放大器的第二输入端与所述采样电阻耦接，所述运算放大器的输出端与所述开关管的控制极耦接，所述开关管与所述测试端口及所述采样电阻串联，所述测试端口的一端与所述模数转换器耦接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张瑜，
申请(专利权)人：上海博泰悦臻网络技术服务有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31