【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统，包括射线源、样品台、探测器，所述射线源发射出的X射线穿透所述待测样品后投射至所述高分辨率探测器上，完成一幅投影图像的采集；通过一定角度范围内的系列采样，并通过与扫描模式相对应的成像算法即可获取三维立体图像；该本底缺陷图像修正方法可以分别通过三种不同的抖动系统来实现图像抖动采集。本X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统可根据实际需要实现成像器件本底缺陷的标定，以及成像器件本底缺陷图像与样品内部真实图像之间的区分，并消除本底缺陷引起的图像重建伪像，获得真实的、高质量的样品内部图像信息。【专利说明】一种X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统
本专利技术涉及显微CT扫描成像
，尤其是涉及一种X射线显微成像本底缺陷图像修正方法和采样系统。
技术介绍
X射线显微镜可以在不破坏样品的情况下，对被测样品内部信息进行超高分辨的成像。X射线显微镜关键成像器件包括:x射线源、高分辨的探测器(主要包括:物镜、闪烁体、CCD等)和旋转台，其成像原理是:射线源发射出的X射线穿透待测样品后投射至探测器上，获...
【技术保护点】
一种X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统，包括用于发射X射线的射线源、用于承载待测样品的样品台及用于成像的探测器，样品台安装有样品抖动系统，其特征在于：所述探测器和所述射线源在纵向上位于所述样品台的两侧，所述射线源发射出的X射线穿透所述待测样品后投射至所述探测器上，完成一幅投影图像的采集，通过在一定角度范围内的系列采样，并利用相应的重建算法即可获取三维立体图像。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：须颖，
申请(专利权)人：天津三英精密仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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