温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统，包括射线源、样品台、探测器，所述射线源发射出的X射线穿透所述待测样品后投射至所述高分辨率探测器上，完成一幅投影图像的采集；通过一定角度范围内的系列采样，并通过与扫描模式相对应的成像算法即...
该专利属于天津三英精密仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津三英精密仪器有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。