智能型发光二极管驱动装置制造方法及图纸

技术编号:10175850 阅读:105 留言:0更新日期:2014-07-02 16:02
一种智能型发光二极管驱动装置,系应用于一发光二极管、一光学检测设备及一计算机。该智能型发光二极管驱动装置包含一微处理单元及一发光二极管驱动电路。该光学检测设备检测该发光二极管的光学特性之后,该光学检测设备传送一光学特性信号至该计算机;该计算机运算处理该光学特性信号后,传送一控制信号至该微处理单元;该微处理单元纪录该控制信号;依据该控制信号,该微处理单元控制该发光二极管驱动电路;该发光二极管驱动电路以一驱动电流驱动该发光二极管。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种智能型发光二极管驱动装置,系应用于一发光二极管、一光学检测设备及一计算机。该智能型发光二极管驱动装置包含一微处理单元及一发光二极管驱动电路。该光学检测设备检测该发光二极管的光学特性之后,该光学检测设备传送一光学特性信号至该计算机;该计算机运算处理该光学特性信号后,传送一控制信号至该微处理单元;该微处理单元纪录该控制信号;依据该控制信号,该微处理单元控制该发光二极管驱动电路;该发光二极管驱动电路以一驱动电流驱动该发光二极管。【专利说明】智能型发光二极管驱动装置
本专利技术涉及一种发光二极管驱动装置,特别涉及一种智能型发光二极管驱动装置。
技术介绍
请参考图1,其为相关技术的发光二极管模块方框图。一发光二极管模块90包含一发光二极管20及一发光二极管驱动电路104 ;该发光二极管20电性连接至该发光二极管驱动电路104。该发光二极管驱动电路104是用以驱动该发光二极管20 ;该发光二极管20的光的强度是取决于该发光二极管驱动电路104所输出的电流;如果该发光二极管驱动电路104所输出的电流越大,则该发光二极管20的光的强度越强;如果该发光二极管驱动电路104所输出的电流越小,则该发光二极管20的光的强度越弱。然而,在上述相关技术当中,如果想改变该发光二极管驱动电路104所输出的电流,则必须改变该发光二极管驱动电路104的硬件;如此将非常地不方便。尤其是,在多个该发光二极管20被制造完成时,该些发光二极管20会依照该些发光二极管20的光学特性而被分类。如果光学特性不同的该些发光二极管20都被使用制造成相同光学特性的该些发光二极管模块90,则部分该发光二极管驱动电路104的硬件必须改变,以达成所有该些发光二极管模块90的光学特性都相同;如此将非常地不方便。再者,该发光二极管20使用越久,则该发光二极管20的光的强度越弱;而已经被焊接在一印刷电路板(图1未示)上的该发光二极管驱动电路104的硬件不可能再改变以增加该发光二极管驱动电路104的输出电流。于是,不可避免地,该发光二极管20使用越久,则该发光二极管20的光的强度越弱。
技术实现思路
为改善上述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种智能型发光二极管驱动装置。为达成本专利技术的上述目的,本专利技术的智能型发光二极管驱动装置是应用于一发光二极管、一光学检测设备及一计算机,该光学检测设备电性连接至该计算机。该智能型发光二极管驱动装置包含:一微处理单元,该微处理单元电性连接至该计算机;及一发光二极管驱动电路,该发光二极管驱动电路电性连接至该微处理单元及该发光二极管。其中该光学检测设备检测该发光二极管的光学特性之后,该光学检测设备传送一光学特性信号至该计算机;该计算机运算处理该光学特性信号后,该计算机传送一控制信号至该微处理单元;该微处理单元纪录该控制信号;依据该控制信号,该微处理单元控制该发光二极管驱动电路;该发光二极管驱动电路以一驱动电流驱动该发光二极管。以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述,但不作为对本专利技术的限定。【专利附图】【附图说明】图1为相关技术的发光二极管模块方框图;图2为本专利技术的智能型发光二极管驱动装置方框图;图3为本专利技术的智能型发光二极管模块方框图;图4为本专利技术的智能型发光二极管系统方框图。其中,附图标记智能型发光二极管驱动装置10发光二极管20光学检测设备30计算机40光学特性信号50控制信号60智能型发光二极管模块70智能型发光二极管系统80发光二极管模块90微处理单元102发光二极管驱动电路104计时单元106温度感测单元108储存单元110数字多工接口 112数字可定址照明接口 114驱动电流116第一预设电流118第二预设电流120【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术的结构原理和工作原理作具体的描述:请参考图2,其为本专利技术的智能型发光二极管驱动装置方框图;一智能型发光二极管驱动装置10是应用于一发光二极管20、一光学检测设备30及一计算机40。并请同时参考图3,其为本专利技术的智能型发光二极管模块方框图;该发光二极管20与该智能型发光二极管驱动装置10整合成一智能型发光二极管模块70。并请同时参考图4,其为本专利技术的智能型发光二极管系统方框图;该智能型发光二极管模块70、该光学检测设备30与该计算机40整合成一智能型发光二极管系统80。该智能型发光二极管驱动装置10包含一微处理单元102、一发光二极管驱动电路104、一计时单元106、一温度感测单元108、一储存单元110、一数字多工接口 112及一数字可定址照明接口(Digital Addressable Lighting Interface,通常简称为 DALI 或DigitalMultiplex,通常简称为 DMX) 114。该光学检测设备30电性连接至该计算机40 ;该微处理单元102电性连接至该计算机40、该发光二极管驱动电路104、该计时单元106、该温度感测单元108、该储存单元110、该数字多工接口 112及该数字可定址照明接口 114 ;该发光二极管20电性连接至该发光二极管驱动电路104及该计时单元106。该光学检测设备30检测该发光二极管20的光学特性之后,该光学检测设备30传送一光学特性信号50至该计算机40 ;该计算机40运算处理该光学特性信号50后,该计算机40传送一控制信号60至该微处理单元102 ;该微处理单元102纪录该控制信号60 ;依据该控制信号60,该微处理单元102控制该发光二极管驱动电路104 ;该发光二极管驱动电路104以一驱动电流116驱动该发光二极管20。如前所述,在多个该发光二极管20被制造完成时,该些发光二极管20会依照该些发光二极管20的光学特性而被分类。因此,该光学检测设备30检测该发光二极管20的光学特性,该光学检测设备30即通知该计算机40,该计算机40运算处理该光学特性信号50后,该计算机40通知该微处理单元102,该微处理单元102即纪录下该发光二极管20的光学特性。于是,当该智能型发光二极管模块70被焊接在一印刷电路板(图2?图4未示)时,该微处理单元102即依据该控制信号60控制该发光二极管驱动电路104以驱动该发光二极管20。而需求的光的强度、光学特性及输出电流等等设定信息可由该计算机40及该微处理单元102作设定处理。藉此,如果光学特性不同的该些发光二极管20都被使用制造成相同光学特性的该些智能型发光二极管模块70,则该些发光二极管驱动电路104的硬件不必改变,即可达成所有该些智能型发光二极管模块70的光学特性都相同;如此将非常地方便。再者,该计时单元106是用以计算该发光二极管20已使用时间;该微处理单元102是用以累计该发光二极管20已使用时间;当该发光二极管20已使用超过一第一预定时间时,该发光二极管驱动电路104以一第一预设电流118驱动该发光二极管20,该第一预设电流118大于该驱动电流116。例如,该驱动电流116为500mA ;当该发光二极管20已使用超过1000个小时,该发光二极管驱动电路104以520mA的电流驱动该发光二极管20 ;当该发光二极管20已使用超过5000个小时,该发光二极管驱动电路104以550mA的电流驱动该发光二极管20 ;当该发光二极管20已使用本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种智能型发光二极管驱动装置,应用于一发光二极管、一光学检测设备及一计算机,该光学检测设备电性连接至该计算机,其特征在于,该智能型发光二极管驱动装置包含:一微处理单元,该微处理单元电性连接至该计算机;及一发光二极管驱动电路,该发光二极管驱动电路电性连接至该微处理单元及该发光二极管,其中该光学检测设备检测该发光二极管的光学特性之后,该光学检测设备传送一光学特性信号至该计算机;该计算机运算处理该光学特性信号后,该计算机传送一控制信号至该微处理单元;该微处理单元纪录该控制信号;依据该控制信号,该微处理单元控制该发光二极管驱动电路;该发光二极管驱动电路以一驱动电流驱动该发光二极管。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:李正仁丘聪展盧俊宏
申请(专利权)人:合钜光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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