本发明专利技术公开了一种顶尖孔尺寸精度检测装置，包含数显千分表、规体和球形测头顶杆；所述数显千分表设置在规体上；所述球形测头顶杆设置在规体中；所述球形测头顶杆的底端连接有测量圆球，球形测头顶杆的顶端设置有内凹的圆弧面，内凹的圆弧面与数显千分表的测头相配合；所述球形测头顶杆的侧部设置有限位槽，规体的侧部设置有与限位槽相配合的限位钉；本发明专利技术的顶尖孔尺寸精度检测装置，通过数显千分表与球形测头顶杆配合，可以快速准确地测量顶尖孔的尺寸精度，克服了顶尖孔的开口尺寸和开口角度难以测量的问题；使用起来方便快捷，而且结构简单，易操作。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种顶尖孔尺寸精度检测装置，包含数显千分表、规体和球形测头顶杆；所述数显千分表设置在规体上；所述球形测头顶杆设置在规体中；所述球形测头顶杆的底端连接有测量圆球，球形测头顶杆的顶端设置有内凹的圆弧面，内凹的圆弧面与数显千分表的测头相配合；所述球形测头顶杆的侧部设置有限位槽，规体的侧部设置有与限位槽相配合的限位钉；本专利技术的顶尖孔尺寸精度检测装置，通过数显千分表与球形测头顶杆配合，可以快速准确地测量顶尖孔的尺寸精度，克服了顶尖孔的开口尺寸和开口角度难以测量的问题；使用起来方便快捷，而且结构简单，易操作。【专利说明】一种顶尖孔尺寸精度检测装置
本专利技术涉及一种精度检测装置，特别是一种顶尖孔尺寸精度检测装置。
技术介绍
在加工零件时，常采用顶尖孔作为加工定位基准，顶尖孔的尺寸精度直接决定了加工零件时的定位精度，衡量一个顶尖孔的尺寸主要有两个，即顶尖孔的开口尺寸和开口角度，一般的测量装置很难直接检测出这两个尺寸是否达到精度要求；现有一种检测方法，是用一个圆球放入顶尖孔中，用圆球凸出测量平面的距离作为顶尖孔精度的衡量标准，当凸出距离在允许范围内时，则证明顶尖孔尺寸合格；因此，现需要一种便于测量圆球凸出测量平面的距离的测量装置。
技术实现思路
针对上述存在的技术问题，本专利技术的目的是:提出了一种顶尖孔尺寸精度检测装置。本专利技术的技术解决方案是这样实现的:一种顶尖孔尺寸精度检测装置，包含数显千分表、规体和球形测头顶杆；所述数显千分表设置在规体上；所述球形测头顶杆设置在规体中；所述球形测头顶杆的底端连接有测量圆球，球形测头顶杆的顶端设置有内凹的圆弧面，内凹的圆弧面与数显千分表的测头相配合；所述球形测头顶杆的侧部设置有限位槽，规体的侧部设置有与限位槽相配合的限位钉。优选的，所述数显千分表的测头处通过开口套固定在规体的顶端。优选的，所述数显千分表与规体之间还设置有保护壳对数显千分表进行支撑和固定。优选的，所述球形测头顶杆与规体之间设置有弹性件。由于上述技术方案的运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点: 本专利技术的顶尖孔尺寸精度检测装置，通过数显千分表与球形测头顶杆配合，可以快速准确地测量顶尖孔的尺寸精度，克服了顶尖孔的开口尺寸和开口角度难以测量的问题；使用起来方便快捷，而且结构简单，易操作。【专利附图】【附图说明】下面结合附图对本专利技术技术方案作进一步说明: 附图1为本专利技术所述的顶尖孔尺寸精度检测装置的结构示意图； 附图2为本专利技术所述的顶尖孔尺寸精度检测装置的一种使用状态的示意图； 其中:1、数显千分表；2、规体；3、球形测头顶杆；4、限位钉；5、开口套；6、保护壳；7、弹性件；8、校准块。【具体实施方式】下面结合附图来说明本专利技术。如图1所示，本专利技术所述的一种顶尖孔尺寸精度检测装置，包含数显千分表1、规体2和球形测头顶杆3 ;所述数显千分表I的测头处通过开口套5固定在规体2的顶端；所述数显千分表I与规体2之间还设置有保护壳6对数显千分表I进行支撑和固定；所述球形测头顶杆3设置在规体2中；所述球形测头顶杆3的底端连接有测量圆球，球形测头顶杆3的顶端设置有内凹的圆弧面，内凹的圆弧面与数显千分表I的测头相配合；所述球形测头顶杆3的侧部设置有限位槽，规体2的侧部设置有与限位槽相配合的限位钉4，限位槽和限位钉4可以防止球形测头顶杆3在规体2中滑落或者旋转，带来测量误差；所述球形测头顶杆3与规体2之间设置有弹性件7，使球形测头顶杆3的测量圆球在测量时可以压紧顶尖孔。如图2所示，在使用前先将球形测头顶杆3的测量圆球放入一个校准块8上锥形孔中，使规体2的底面和校准块8的顶面紧贴，将此时数显千分表I校零；然后将球形测头顶杆3的测量圆球放入待测的顶尖孔中，使规体2的底面和顶尖孔上表面紧贴，查看数显千分表I的读数，若读数在允许公差范围内，则顶尖孔尺寸合格，若读数不在允许公差范围内，则顶尖孔尺寸不合格。由于上述技术方案的运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点: 本专利技术方案的顶尖孔尺寸精度检测装置，通过数显千分表与球形测头顶杆配合，可以快速准确地测量顶尖孔的尺寸精度，克服了顶尖孔的开口尺寸和开口角度难以测量的问题；使用起来方便快捷，而且结构简单，易操作。上述实施例只为说明本专利技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本专利技术的内容并加以实施，并不能以此限制本专利技术的保护范围，凡根据本专利技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本专利技术的保护范围内。【权利要求】1.一种顶尖孔尺寸精度检测装置，其特征在于:包含数显千分表(I)、规体(2)和球形测头顶杆(3);所述数显千分表(I)设置在规体(2)上；所述球形测头顶杆(3)设置在规体(2)中；所述球形测头顶杆(3)的底端连接有测量圆球，球形测头顶杆(3)的顶端设置有内凹的圆弧面，内凹的圆弧面与数显千分表(I)的测头相配合；所述球形测头顶杆(3)的侧部设置有限位槽，规体(2)的侧部设置有与限位槽相配合的限位钉(4)。2.根据权利要求1所述的顶尖孔尺寸精度检测装置，其特征在于:所述数显千分表(I)的测头处通过开口套(5)固定在规体(2)的顶端。3.根据权利要求1所述的顶尖孔尺寸精度检测装置，其特征在于:所述数显千分表(I)与规体(2)之间还设置有保护壳(6)对数显千分表(I)进行支撑和固定。4.根据权利要求1所述的顶尖孔尺寸精度检测装置，其特征在于:所述球形测头顶杆(3)与规体(2)之间设置有弹性件(7)。【文档编号】G01B5/00GK103851981SQ201410073027【公开日】2014年6月11日 申请日期:2014年2月28日 优先权日:2014年2月28日 【专利技术者】刘旭, 朱学超, 李洪伟 申请人:苏州市职业大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种顶尖孔尺寸精度检测装置，其特征在于：包含数显千分表（1）、规体（2）和球形测头顶杆（3）；所述数显千分表（1）设置在规体（2）上；所述球形测头顶杆（3）设置在规体（2）中；所述球形测头顶杆（3）的底端连接有测量圆球，球形测头顶杆（3）的顶端设置有内凹的圆弧面，内凹的圆弧面与数显千分表（1）的测头相配合；所述球形测头顶杆（3）的侧部设置有限位槽，规体（2）的侧部设置有与限位槽相配合的限位钉（4）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘旭，朱学超，李洪伟，
申请(专利权)人：苏州市职业大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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