基于方向波域图像融合的SAR图像变化检测方法技术

技术编号:10106780 阅读:187 留言:0更新日期:2014-06-01 21:48
本发明专利技术公开了一种基于方向波域图像融合的SAR图像变化检测方法,克服了现有技术中差异图融合时不能较好的保留差异图细节信息、对差异图采用二值化分割方法会导致变化区域信息丢失的问题。本发明专利技术实现的步骤是:(1)输入图像;(2)图像预处理;(3)生成差异图;(4)构造联合差异图;(5)分割联合差异图;(6)输出图像。本发明专利技术具有描述变化区域与未变化区域边界更加精确、漏检率较低的优点,可应用于合成孔径雷达SAR图像目标识别领域中的自然灾害检测。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种基于方向波域图像融合的SAR图像变化检测方法,克服了现有技术中差异图融合时不能较好的保留差异图细节信息、对差异图采用二值化分割方法会导致变化区域信息丢失的问题。本专利技术实现的步骤是:(1)输入图像;(2)图像预处理;(3)生成差异图;(4)构造联合差异图;(5)分割联合差异图;(6)输出图像。本专利技术具有描述变化区域与未变化区域边界更加精确、漏检率较低的优点,可应用于合成孔径雷达SAR图像目标识别领域中的自然灾害检测。【专利说明】基于方向波域图像融合的SAR图像变化检测方法
本专利技术属于图像处理
,更进一步涉及合成孔径雷达图像变化检测
中的一种基于方向波域图像融合的合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar, SAR)图像变化检测方法。本专利技术在SAR图像目标识别领域中可用于自然灾害检测。
技术介绍
变化检测的研究对象是多时相数据,要求获取观测目标在不同时刻的成像数据,变化检测的目的即是通过对多时相数据进行分析,提取不同时刻观测对象所发生的变化信息。合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar, SAR)成像作为一种重要对地观察手段,特别是其主动式微波成像原理,使之能够不受天气和光照的影响,全天候、全天时对地进行观测,此外,微波的穿透能力使SAR能够穿透森林,对于隐藏于森林区域中的机动目标具有探测能力,因此SAR图像已经成为图像变化检测的重要信息源。西安电子科技大学在其专利申请“基于邻域对数比值及各向异性扩散的sar图像变化检测方法”(专利申请号:CN201110005209,【专利技术者】白静, 焦李成, 刘斌, 马文萍, 马晶晶, 王爽, 张向荣, 胡波 申请人:西安电子科技大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于方向波域图像融合的SAR图像变化检测方法,包括如下步骤:(1)输入图像:任选同一地区、不同时间拍摄的两幅SAR图像S1和S2作为待变化检测SAR图像;(2)图像预处理:采用概率性分块匹配滤波方法,分别对SAR图像S1和S2滤波,得到滤波后图像X1和X2;(3)生成差异图:(3a)利用比值算子公式,对滤波后图像X1和X2中的像素值进行操作,得到差异图I1的像素值;(3b)利用混合算子公式,对滤波后图像X1和X2中的像素值进行操作,得到差异图I2的像素值;(4)构造联合差异图:(4a)分别对差异图I1和I2进行方向波变换,得到差异图I1和I2的方向波低频子带系数和高频子带系数;(4b)利用下式,对差异图I1和I2的方向波低频子带系数进行融合,得到联合差异图I3的方向波低频子带系数:LijI3=12(LijI1+LijI2),i∈M,j∈N]]>其中,表示联合差异图I3的方向波低频子带中第i行、第j列的系数,表示差异图I1的方向波低频子带第i行、第j列的系数,表示差异图I2的方向波低频子带第i行、第j列的系数,M表示差异图I1和I2的行数,N表示差异图I1和I2的列数;(4c)利用下式,对差异图I1和I2的方向波高频子带系数进行融合,得到联合差异图I3的方向波高频子带系数:HijI3=max(HijI1,HijI2),i∈M,j∈N]]>其中,表示联合差异图I3的方向波高频子带中第i行、第j列的系数,max(·)表示取最大值操作,表示差异图I1的高频子带中第i行、第j列的系数,表示差异图I2的方向波低频子带中第i行、第j列的系数,M表示差异图I1和I2的行数,N表示差异图I1和I2的列数;(4d)对联合差异图I3的方向波低频系数和高频系数进行方向波逆变换,得到联合差异图I3;(5)分割联合差异图:(5a)采用模糊C均值聚类方法,按如下步骤,将联合差异图I3中所有像素划分为强变化类像素、弱变化类像素及未变化类像素:(5a1)将联合差异图I3中所有像素的灰度值作为每个像素的特征向量,同时,从联合差异图I3中任意选择3个像素的灰度值作为3类像素的3个初始聚类中心;(5a2)按照下式,更新联合差异图I3中像素的特征向量的隶属度:uik=Σ(||xk-vi||||xk-vj||)-2,j=1,2,...,n]]>其中,uik表示联合差异图I3中第k个像素的特征向量隶属于第i类像素的隶属度,∑为求和操作,xk表示联合差异图I3中第k个像素的特征向量,vi表示第i类像素的聚类中心,vj表示第j类像素的聚类中心,k表示联合差异图I3中像素的特征向量的序号,i表示当前的聚类类别,j表示任意的聚类类别,n表示联合差异图I3中像素的特征向量的个数,||·||表示求欧式距离操作;(5a3)按照下式,更新聚类中心向量:vi=Σ(uik)2xkΣ(uik)2,k=1,2,...,n]]>其中,vi表示联合差异图I3第i类像素的聚类中心向量,∑为求和操作,μik表示联合差异图I3中第k个像素的特征向量隶属于第i类像素的隶属度,xk表示联合差异图I3中第k个像素的特征向量,i表示聚类的类别,k表示联合差异图I3中像素的特征向量的序号,n表示联合差异图I3中像素的特征向量的个数;(5a4)将第一步至第三步迭代执行20次,得到联合差异图I3中像素的特征向量的隶属矩阵;(5a5)将隶属矩阵中每列隶属度的最大值的行数作为像素的类别,得到强变化类像素、弱变化类像素及未变化类像素;(5b)将强变化类像素和弱变化类像素合并为变化类像素;(5c)将步骤(5a)中的未变化类像素作为变化检测结果图像Ir中的未变化类像素,将步骤(5b)中的变化类像素作为变化检测结果图像Ir中的变化类像素,得到变化检测结果图像Ir;(6)输出图像:输出变化检测结果图像Ir。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:白静焦李成刘斌马文萍马晶晶王爽张向荣胡波
申请(专利权)人:西安电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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