一种电子断层图像序列对位方法技术

本发明专利技术提供一种电子断层图像序列对位方法，包括下列步骤：1）采用能够保留图像仿射变换信息的特征提取算法，从每幅电子断层投影图像中提取特征点；2）对不同电子断层投影图像的特征点进行匹配，获得多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系；3）基于仿射模型，根据步骤2）所获得的多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系，估计各电子断层投影图像所对应的对位参数。本发明专利技术不依赖胶体金标记，且能够提高对位准确度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供，包括下列步骤：1）采用能够保留图像仿射变换信息的特征提取算法，从每幅电子断层投影图像中提取特征点；2）对不同电子断层投影图像的特征点进行匹配，获得多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系；3）基于仿射模型，根据步骤2）所获得的多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系，估计各电子断层投影图像所对应的对位参数。本专利技术不依赖胶体金标记，且能够提高对位准确度。【专利说明】
本专利技术涉及电子断层成像
，具体地说，本专利技术涉及。
技术介绍
电子显微镜(简称电镜)三维重构技术，利用电子显微镜拍摄的生物大分子投影图像序列进行三维重构得到生物大分子的三维密度结构，是结构生物学研究中的一种主流的技术支持手段。根据投影的不同特点和分子样品的适用范围，电镜三维重构技术可分为:电子晶体学、单颗粒分析和电子断层成像技术。其中电子断层成像技术能够重构出不具有全同性且不需要结晶的细胞及亚细胞超微结构，具有其他技术不可替代的优势。受一系列机器及人工误差的影响，投影图像序列可能出现一系列的偏移旋转，且样品在空间中也会发生单纯的投影图像序列操作无法修复的运动，这极本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子断层图像序列对位方法，包括下列步骤：1）从每幅电子断层投影图像中提取特征点，所述特征点能够保留图像仿射变换信息；2）对不同电子断层投影图像的特征点进行匹配，获得多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系；所述对应关系是对应于同一实际样品特征区块的不同角度电子断层投影图像中的特征点之间的关联关系；3）基于仿射模型，根据步骤2）所获得的多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系，估计各电子断层投影图像所对应的对位参数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：韩仁敏，张法，储琪，
申请(专利权)人：中国科学院计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：