一种光致发光测试发光强度和波长的装置制造方法及图纸

技术编号:10101171 阅读:226 留言:0更新日期:2014-05-30 14:28
本发明专利技术提供一种光致发光测试发光强度和波长的装置,包括:稳压源、显示装置、变压器、激光发生器,所述显示装置、变压器通过稳压源连接于市电,显示装置通过数据转换装置连接于数据收集通道,数据收集通道安装在生长完的外延片上,生长完的外延片一侧安装有激光发生器,激光发生器连接到变压器上,利用激光发生器打出激光直射到生长完的外延片表面,然后在能量的作用下,电子和空穴复合发光,利用数据转换装置将从数据收集通道内收集的数据量化成具体数据。本发明专利技术结构简单,备件价格较低、测试周期短,从而有效的避免产品品质的下降和报废,为品位提升提供强有力的技术支持。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种光致发光测试发光强度和波长的装置,包括:稳压源、显示装置、变压器、激光发生器,所述显示装置、变压器通过稳压源连接于市电,显示装置通过数据转换装置连接于数据收集通道,数据收集通道安装在生长完的外延片上,生长完的外延片一侧安装有激光发生器,激光发生器连接到变压器上,利用激光发生器打出激光直射到生长完的外延片表面,然后在能量的作用下,电子和空穴复合发光,利用数据转换装置将从数据收集通道内收集的数据量化成具体数据。本专利技术结构简单,备件价格较低、测试周期短,从而有效的避免产品品质的下降和报废,为品位提升提供强有力的技术支持。【专利说明】一种光致发光测试发光强度和波长的装置
本专利技术涉及半导体制造
,具体为一种光致发光测试发光强度和波长的装置。
技术介绍
LED是英文Light Emitting Diode (发光二极管)的缩写,其核心部分是由P型半导体和η型半导体组成的晶片,在P型半导体和η型半导体之间有一个过渡层,称为ρ-η结。在某些半导体材料的PN结中,注入的少数载流子与多数载流子复合时会把多余的能量以光的形式释放出来,从而把电能直接转换为光能。现有的外延片测试周期时间较长,一般需要五天左右,这样对技术人员的工艺调整难度大大增加,因为外延在生长完成后一个制程只需要6-9小时,在五天的时间里会完成许多个制程;时间太长,导致有些工艺参数无法及时调整,尤其对亮度、光致发光波长等重要参数。
技术实现思路
本专利技术所解决的技术问题在于提供一种光致发光测试发光强度和波长的装置,以解决上述
技术介绍
中的问题。本专利技术所解决的技术问题采用以下技术方案来实现:一种光致发光测试发光强度和波长的装置,包括:稳压源、显示装置、变压器、激光发生器,所述显示装置、变压器通过稳压源连接于市电,显示装置通过数据转换装置连接于数据收集通道,数据收集通道安装在生长完的外延片上,生长完的外延片一侧安装有激光发生器,激光发生器连接到变压器上,利用激光发生器打出激光直射到生长完的外延片表面,然后在能量的作用下,电子和空穴复合发光,利用数据转换装置将从数据收集通道内收集的数据量化成具体数据。所述显示装置为液晶显示器。所述稳压源为220V稳压器。与已公开技术相比,本专利技术存在以下优点:本专利技术通过对液晶显示器上显示的光致发光的波长和发光强度,工艺技术人员及时做出工艺参数调整,结构简单,备件价格较低、测试周期短,从而有效的避免产品品质的下降和报废,为品位提升提供强有力的技术支持。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术的结构示意图。【具体实施方式】为了使本专利技术的技术手段、创作特征、工作流程、使用方法达成目的与功效易于明白了解,下面将结合本专利技术实施例,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。如图1所示,一种光致发光测试发光强度和波长的装置,包括:稳压源、显示装置、变压器、激光发生器,所述显示装置、变压器通过稳压源连接于市电,显示装置通过数据转换装置连接于数据收集通道,数据收集通道安装在生长完的外延片上,生长完的外延片一侧安装有激光发生器,激光发生器连接到变压器上,利用激光发生器打出激光直射到生长完的外延片表面,然后在能量的作用下,电子和空穴复合发光,利用数据转换装置将从数据收集通道内收集的数据量化成具体数据。具体地,所述显示装置为液晶显示器。具体地,所述稳压源为220V稳压器。本专利技术的工作原理为:在把电源供给装置(稳流源)接入电网提供的市电(220V)后,提供稳定的电源电电压,然后通过变压装置(高压变压器),将电压升3200V-4000V之间,然后将电压加载到激光器上面,然后激光器将高能量激光通过专用通道再经过技术触点打到生长好的外延片上面,这样就能够高能激光将生长好的外延片的电子和空穴激活,在能量的激发下,发生能级跃迁,从而在中间量子阱区域复合发光,最后通过数据转换装置将我们需要的波长和发光强度通过显示装置呈现出来。此装置结构简单,备件价格较低、测试周期短,实用性相当强等特点。以上显示和描述了本专利技术的基本原理、主要特征及本专利技术的优点。本行业的技术人员应该了解,本专利技术不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本专利技术的原理,在不脱离本专利技术精神和范围的前提下,本专利技术还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本专利技术范围内。本专利技术的要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。【权利要求】1.一种光致发光测试发光强度和波长的装置,包括:稳压源、显示装置、变压器、激光发生器,其特征在于:所述显示装置、变压器通过稳压源连接于市电,显示装置通过数据转换装置连接于数据收集通道,数据收集通道安装在生长完的外延片上,生长完的外延片一侧安装有激光发生器,激光发生器连接到变压器上,利用激光发生器打出激光直射到生长完的外延片表面,然后在能量的作用下,电子和空穴复合发光,利用数据转换装置将从数据收集通道内收集的数据量化成具体数据。2.根据权利要求1所述的一种光致发光测试发光强度和波长的装置,其特征在于:所述显示装置为液晶显示器。3.根据权利要求1所述的一种光致发光测试发光强度和波长的装置,其特征在于:所述稳压源为220V稳压器。【文档编号】H01L33/00GK103824911SQ201410090603【公开日】2014年5月28日 申请日期:2014年3月12日 优先权日:2014年3月12日 【专利技术者】林长军 申请人:合肥彩虹蓝光科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光致发光测试发光强度和波长的装置,包括:稳压源、显示装置、变压器、激光发生器,其特征在于:所述显示装置、变压器通过稳压源连接于市电,显示装置通过数据转换装置连接于数据收集通道,数据收集通道安装在生长完的外延片上,生长完的外延片一侧安装有激光发生器,激光发生器连接到变压器上,利用激光发生器打出激光直射到生长完的外延片表面,然后在能量的作用下,电子和空穴复合发光,利用数据转换装置将从数据收集通道内收集的数据量化成具体数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林长军
申请(专利权)人:合肥彩虹蓝光科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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