一种成形编带切脚机的夹料座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种成形编带切脚机的夹料座，包括第一夹料手、第二夹料手，以及第一夹料手和第二夹料手之间的用于夹持管脚的夹持端面，所述夹持端面上相应的位置设有两根分别用于导通管脚的探针，所述探针连通测试设备。优选的是，所述两根探针从第一夹料手或第二夹料手的外侧穿入，并从第一夹料手或第二夹料手的夹持端面穿出。本实用新型专利技术的夹料座在夹持电子器件管脚时，两根探针分别导通两个待测试管脚，以便测试设备对该电子器件再进行一次是否开路或极性反检测，这样对产品的质量更加有保证。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种成形编带切脚机的夹料座，包括第一夹料手、第二夹料手，以及第一夹料手和第二夹料手之间的用于夹持管脚的夹持端面，所述夹持端面上相应的位置设有两根分别用于导通管脚的探针，所述探针连通测试设备。优选的是，所述两根探针从第一夹料手或第二夹料手的外侧穿入，并从第一夹料手或第二夹料手的夹持端面穿出。本技术的夹料座在夹持电子器件管脚时，两根探针分别导通两个待测试管脚，以便测试设备对该电子器件再进行一次是否开路或极性反检测，这样对产品的质量更加有保证。【专利说明】一种成形编带切脚机的夹料座
本技术涉及一种成形编带切脚机，更准确地说，涉及对该切脚机夹料座的改进结构。
技术介绍
在生产电子元器件时，其管脚较长，一般都采用切脚机对其管脚进行裁切，工作时，采用夹料座将电子元器件例如三极管夹持住，然后对其管脚进行裁切。例如在测试三极管的时候，使用万用表导通三极管的B极和E极(把万用表打到二极管档位，红表笔接B极，黑表笔接E极)，来测试该三极管，如果不导通，就判断为开路产品或极性相反产品，以便进一步保证产品的质量。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术中存在的问题，提供了一种成形编带切脚机的夹料座。为了实现上述的目的，本技术的技术方案是:一种成形编带切脚机的夹料座，包括第一夹料手、第二夹料手，以及第一夹料手和第二夹料手之间的用于夹持管脚的夹持端面，所述夹持端面上相应的位置设有两根分别用于导通管脚的探针，所述探针连通测试设备。优选的是，所述两根探针从第一夹料手或第二夹料手的外侧穿入，并从第一夹料手或第二夹料手的夹持端面穿出。本技术的夹料座在夹持电子器件管脚时，两根探针分别导通两个待测试管脚，以便测试设备对该电子器件再进行一次是否开路或极性反检测，这样对产品的质量更加有保证。【专利附图】【附图说明】图1示出了本技术夹料座的结构示意图。【具体实施方式】为了使本技术解决的技术问题、采用的技术方案、取得的技术效果易于理解，下面结合具体的附图，对本技术的【具体实施方式】做进一步说明。参考图1，本技术提供的一种成形编带切脚机的夹料座，包括第一夹料手1、第二夹料手2，以及第一夹料手I和第二夹料手2之间的用于夹持管脚的夹持端面，通过第一夹料手I和第二夹料手2的夹持来固定电子元器件3的各管脚，以便对管脚进行裁切。所述夹持端面上相应的位置设有两根分别用于导通管脚的探针300、311，该两个探针连通测试设备(视图未给出)。在本技术的一个具体的实施方式中，连通测试设备的两根探针300、311从第二夹料手2的外侧穿入，并从第二夹料手2的夹持端面穿出。当然，探针也可以设在第一夹料手I上，在此不再进行赘述。本技术的夹料座在夹持电子器件管脚时，两根穿出的探针分别导通两个待测试管脚，以便测试设备对该电子器件进行检测。以BJT三极管为例，在夹持其管脚的同时，探针300导通其E极管脚30，探针311导通其B极管脚31，两极导通就会把信号传递给测试设备，例如万用表，来判断是否为良品。当然也可以采用效率更高的PLC，例如导通时PLC将其判断为良品，不导通则PLC就会判断其为不良品，设备把不良品打入坏品箱。本技术已通过优选的实施方式进行了详尽的说明。然而，通过对前文的研读，对各实施方式的变化和增加也是本领域的一般技术人员所显而易见的。 申请人:的意图是所有这些变化和增加都落在了本技术权利要求所保护的范围中。相似的编号通篇指代相似的元件。为清晰起见，在附图中可能有将某些线、层、元件、部件或特征放大的情况。本文中使用的术语仅为对具体的实施例加以说明，其并非意在对本技术进行限制。除非另有定义，本文中使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)均与本技术所属领域的一般技术人员的理解相同。【权利要求】1.一种成形编带切脚机的夹料座，包括第一夹料手、第二夹料手，以及第一夹料手和第二夹料手之间的用于夹持管脚的夹持端面，其特征在于:所述夹持端面上相应的位置设有两根分别用于导通管脚的探针，所述探针连通测试设备。2.根据权利要求1所述的夹料座，其特征在于:所述两根探针从第一夹料手或第二夹料手的外侧穿入，并从第一夹料手或第二夹料手的夹持端面穿出。【文档编号】G01R1/04GK203606398SQ201320833884【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年12月16日 优先权日:2013年12月16日 【专利技术者】阳天赐, 劳建音 申请人:深圳市三浦半导体有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：阳天赐，劳建音，
申请(专利权)人：深圳市三浦半导体有限公司，
类型：实用新型
国别省市：