一种基于LM-BP神经网络的X射线荧光光谱定量分析方法技术

技术编号:10053018 阅读:169 留言:0更新日期:2014-05-16 01:01
本发明专利技术提供一种基于LM-BP神经网络的X射线荧光光谱定量分析方法,该方法包括:采集训练集样品的X射线荧光光谱,对其进行光谱数据处理,并提取处理后的单一谱线上的若干个数据点强度值;测定训练集样品的对应目标元素的含量;将强度值作为输入层数据,将对应目标元素的含量作为输出层数据,根据输入层与隐含层之间的传递函数,得到隐含层数据,从而建立起BP神经网络模型;采用LM算法对BP神经网络模型进行训练;利用训练好的LM-BP神经网络模型,得到预测集样品的对应目标元素的含量。该方法能够采用基于LM-BP神经网络利用X射线荧光光谱对元素进行定量分析。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种基于LM-BP神经网络的X射线荧光光谱定量分析方法,该方法包括:采集训练集样品的X射线荧光光谱,对其进行光谱数据处理,并提取处理后的单一谱线上的若干个数据点强度值;测定训练集样品的对应目标元素的含量;将强度值作为输入层数据,将对应目标元素的含量作为输出层数据,根据输入层与隐含层之间的传递函数,得到隐含层数据,从而建立起BP神经网络模型;采用LM算法对BP神经网络模型进行训练;利用训练好的LM-BP神经网络模型,得到预测集样品的对应目标元素的含量。该方法能够采用基于LM-BP神经网络利用X射线荧光光谱对元素进行定量分析。【专利说明】—种基于LM-BP神经网络的X射线荧光光谱定量分析方法
本专利技术涉及X射线荧光光谱检测
,具体涉及一种基于LM-BP神经网络的X射线荧光光谱定量分析方法。
技术介绍
X射线突光光谱(X-ray Fluorescence Spectroscopy,简称XRF)作为原子发射光谱的一种,在元素测定方面的应用较为广泛。X射线荧光光谱利用X射线激发元素外层电子,利用光谱仪获取电子跃迁时的荧光光谱,并由谱线的能量和强度进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于LM‑BP神经网络的X射线荧光光谱定量分析方法,其特征在于,该方法包括:S1:采集训练集样品的X射线荧光光谱,对其进行光谱数据处理,并提取处理后的单一谱线上的若干个数据点强度值;S2:测定训练集样品的对应目标元素的含量;S3:将步骤S1中获得的强度值作为输入层数据,将步骤S2中对应目标元素的含量作为输出层数据,根据输入层与隐含层之间的传递函数,得到隐含层数据,从而建立起BP神经网络模型;S4:采用LM算法对BP神经网络模型进行训练,建立X射线荧光光谱定量分析样品目标元素的LM‑BP神经网络模型;S5:将预测集样品的X射线荧光光谱进行光谱数据处理后提取的单一谱线上的若干个数据点强度值作为...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陆安祥王纪华李芳田晓琴付海龙
申请(专利权)人:北京农业质量标准与检测技术研究中心
类型:发明
国别省市:北京;11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1