本实用新型是一种测试晶片的治具结构，包含有一治具座，所述的治具座四周缘各螺固有一定位柱体，其上穿置有数个导电针脚，所述的导电针脚是包含有一中空套筒，所述的中空套筒中依序容置有第一导电体、弹性体与第二导电体；欲进行晶片测试时，是将测试晶片...