本发明的实施例提供了一种用于测试由随机数生成器(11)生成的位序列的设备(100)，其中该设备被配置为响应于检测到由随机数生成器(11)生成的N个位，对位序列应用一个或多个统计测试(103)，每个统计测试提供从所述序列的位导出的至少一个...

一种用于检测对数字电路(1)执行的扰动攻击的设备。该设备包括：

本发明的实施例提供了一种存储器设备(100)，包括存储器(1)，该存储器(1)包括至少一个芯片(2)，每个芯片(2)包括用于存储多个位的一个或多个存储体(10)，每个存储体(10)包括行(13)和列(14)的集合，每个行和每个列包括多个...

提供了一种用于确定密码设备(1)中的一个或多个密钥的密钥确定设备(13)，该密码设备(1)被配置为执行一个或多个测试程序，该密码设备(1)包括一个或多个组件(11

实施例提供了一种用于监视电路有效载荷的电路，包括：多个传感器，多个传感器分布在所述电路中，靠近预定义电路有效载荷；一个或多个存储器单元，一个或多个存储器单元与所述一个或多个传感器相关联，一个或多个存储器单元被配置为每p个时钟周期存储由所...

公开了一种连接的合成物理不可克隆功能(首字母缩写为CSPUF)，该CSPUF由电路构成，该电路被配置为：接收计算机设备中的一个或多个传感器和/或致动器/计算机设备的一个或多个传感器和/或致动器的信号；确定所述传感器和/或致动器中的所述选...

本发明涉及对抗对密码集成电路的故障注入攻击的对策，并且更具体而言，涉及激光故障注入攻击。本发明包括生成属于一组允许序列的位序列以及将这些序列存储到一组触发器上。之后，检查存储在触发器上的序列，如果它们不属于允许序列，那么这是发生了故障注...

提供了一种保护集成电路免受扰动攻击的设备。该设备包括被配置为检测扰动攻击的感测单元(30)，该感测单元包括一组数字传感器，该组数字传感器包括至少两个传感器，该传感器被并行布置。每个数字传感器响应于输入数据而提供具有二进制值的数字化的位输...

公开了在计算机设备中的用于合成的物理不可克隆功能(缩写为SPUF)的电路，其中该电路被配置为进行以下操作：从在所述计算机设备中可访问的多个硬件传感器和/或致动器接受数据；确定所述数据中的偏差；确定所述偏差的多变量分布以及根据所述多变量分...

公开了一种处理传感器的方法，包括以下步骤：定义传感器的传感器部件的子集；在均匀条件下质询所述子集；从所述子集接收输出信号值；对于子集的每个部件，确定所述每个传感器部件的输出信号值的时间分布的阶数i的统计矩；确定一个或多个异常值传感器部件...

公开了一种操作传感器的方法，包括以下步骤：在统一条件下挑战传感器部件的子集；从所述子集接收输出信号值；对于每个部件，确定所述每个传感器部件的输出信号值的时间分布的i阶的统计矩；以及确定与所述子集的其它部件的值的距离之和大于阈值的一个或多...

本发明的实施例提供了一种包括一个或多个处理器的计算设备，每个处理器包括一个或多个处理单元，所述一个或多个处理单元被配置为执行至少一个程序，每个程序包括数据和/或指令，该计算设备进一步包括用于处理器中的至少一些的，与每个处理器相关联的处理...

提供了用于检测集成电路(IC)中的故障点的设备、方法和计算机程序产品。集成电路器件是通过包括多个元件的结构描述(2)来描述的，元件表示单元和将单元互连的线，结构描述还包括表示一组敏感功能块(16)的部分，每个敏感功能块包括一个或多个输入...

公开了一种用于监测处理器的安全性的电路，其中，所述电路被配置为：访问被配置为存储由所述处理器执行的软件程序的执行上下文数据的存储器；从所述执行上下文数据确定一个或多个签名；以及将所述签名与预定义签名进行比较，以监测所述处理器(110)的...

用于将算法的调用图表示变换成所述算法的受保护调用图表示的计算机实现的方法、程序产品以及实现所述方法的系统。调用图包括输入(a，b，f)、作为图的边(c，d，e)的内部变量、作为图的节点的基本函数，所述函数是线性的或非线性的，并且包括输出...

公开了一种用于利用电路(120)来监测目标系统(110)的安全性的系统，该目标系统(110)包括至少一个处理器(111)，并且其中：电路(120)包括有限状态机(122)，该有限状态机(122)被配置为从分布在目标系统(110)中的一个...

本发明的实施例提供了一种包括物理不可克隆功能(PUF)电路的用于生成秘密信息的电子系统，所述PUF电路被配置为响应于应用于所述PUF电路的挑战而提供所述PUF的物理变量的两个值之间的差。系统被配置为在登记阶段应用一组挑战，并且测量由PU...

本发明的实施例提供了一种包括物理不可克隆函数(PUF)电路的用于生成秘密信息的电子系统，所述PUF电路被配置为响应于应用于所述PUF电路的挑战而提供所述PUF的物理变量的两个值之间的差。系统被配置为在登记阶段期间应用一组挑战，并且测量由...

公开了包括物理不可克隆功能和在线测试电路或嵌入式测试电路的硅集成电路，所述在线测试电路包括与所述PUF物理相邻的一个或多个电路部分，并且所述一个或多个电路体现一个或多个测试，该一个或多个测试被执行以确定所述PUF的一个或多个质量性质或以...

提供用于对被实现在设备中的物理不可克隆功能(PUF)进行测试的方法，所述PUF被配置为接收至少一个激励并且产生一组响应，每个激励包括一组比特，每个响应包括至少一个比特并且与一个激励相对应；所述PUF包括电路，所述电路包括一组PUF元件，...