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张姿专利技术
张姿共有1项专利
微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法技术
本发明公开了一种微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法,包括以下工作步骤:采用粉末处理装置将含有杂质的微纳颗粒状粉体在平台上铺平;采用CCD相机或CMOS相机对粉层进行拍照;照片通过数据传输线传送到个人计算机、或平板电脑、或手机;个人计算机、或...
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