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意法半导体格勒诺布尔有限公司专利技术
意法半导体格勒诺布尔有限公司共有1项专利
用于测量链的可重复性和可再现性的改进检查、特别是用于借助于半导体器件测试的质量控制的方法技术
本发明涉及一种用于测量链的可重复性和可再现性的改进检查,特别是用于借助于半导体器件测试的质量控制的方法,其中,针对将通过测量系统而经受测量的多个且不同的器件提供测试步骤,所述测量系统包括在测试设备(ATE)与将经受测量的每个器件之间的测...
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