本实用新型公开了一种新型的芯片超薄测试座，主要包括测试座板、测试端口、内存芯片、测试端子，所述测试座板上下呈对称分布，所述测试座板中间设置横向槽，槽中间两侧设置有信息传输端，槽边缘两侧均设置有装配卡槽，所述测试座板安装在所述内存芯片正底...