本发明公开了一种集成电路中可靠性分析的测试结构及测试方法，涉及半导体制造业中的可靠性技术领域，包括测试结构底座，所述测试结构底座的正面固定安装有控制元件，所述测试结构底座的上端固定安装有支撑架，所述支撑架的上端固定安装有液压缸，所述液压...