本发明属于集成电路技术领域，尤其是一种用于集成电路的电路板热老化检测装置，包括老化箱，老化箱一侧表面开设有安装口，安装口内设置有温湿控制装置，老化箱另一侧表面开设有进件口，进件口上方设置有进出控制装置，所述老化箱内底壁固定安装有滑轨，滑...