本发明实施例公开了一种半导体器件测试装置及系统。该半导体器件测试装置包括双脉冲合成单元、驱动单元、第一电阻和第二电阻；双脉冲合成单元的第一端与信号发生器连接，双脉冲合成单元的第二端与驱动单元的第一端连接；驱动单元的第二端与被测半导体器件...