本发明提供了一种检测探头、检测电路和检测装置，涉及微型发光二极管检测技术领域。该检测探头包括：底座；检测部，固定设置于底座的表面，检测部用于与待测芯片的电极接触，以向待测芯片输入激励信号；以及导电膜层，设置于底座的表面，且与检测部电连接...