本发明公开了一种晶元芯片生产用自动检测设备，涉及芯片检测技术领域。该晶元芯片生产用自动检测设备，包括：检测仓，所述检测仓的内部装配有具有定位作用的定位探头，所述检测仓的内部装配有由线性电机一驱动的移动杆一；检测探头，所述检测探头装配在移...