本发明公开了一种基于自适应校准算法的多通道电子元器件测试系统，包括如下模块：信号采集与预处理模块，用于采集通道信号并进行标准化处理；线性回归校准模块，用于计算偏移参数和增益参数，输出初始通道校准参数；去耦自适应校准模块，用于生成自适应校...