本发明涉及半导体热阻测试技术领域，公开了一种氮化镓半导体稳态热阻测试设备，包括控制箱，所述控制箱的内部固定设置有支撑架，所述支撑架的内部安装有测试模具，所述控制箱的内部固定设置有测试台，且测试台位于测试模具的正下方，所述测试台的内部开设...