本发明涉及一种利用高次谐波检测薄膜电路表面吸附物的方法及装置，利用Yb:KGW全固态飞秒激光器产生200fs的高重频飞秒脉冲；通过多通腔脉冲压缩器，产生高重频30fs的飞秒光源；将飞秒光源注入到高次谐波产生腔中产生73阶的高次谐波；利用...

本发明属于电路检测技术领域，具体的说是一种基于高次谐波的缺陷检测装置，包括外壳，所述外壳的顶端设置有面板，所述面板的上方设置有两个连接插座，所述连接插座的内部插设有插线端，所述连接插座的外部设置有固定架，所述固定架的底端与面板固定连接，...