本技术公开了一种测试固定治具结构；所述测试固定治具结构，包括：治具本体，所述治具本体设有至少一个用于放置物料的容纳腔，所述治具本体位于所述容纳腔的两侧设有锁紧件，所述锁紧件用于锁紧所述物料。本技术通过将物料放置于治具本体的容纳腔内，然后...

本技术公开了一种震动测试固定治具结构；所述震动测试固定治具结构，包括：治具本体，所述治具本体至少一个面设有置物区域，所述置物区域内设有至少一个用于放置物料的容纳腔，所述置物区域位于所述容纳腔的两侧设有锁紧件，所述锁紧件用于锁紧所述物料。...

本发明公开了一种DDR5内存模组测试电路、装置及方法，该电路包括插座模块、主控模块、电源模块及开关模块；插座模块设有不同类型的DDR5插座，不同类型的DDR5插座用于插接不同类型的DDR5内存模组；电源模块连接于插座模块，用于为插座模块...

本实用新型公开了一种在板测试装置；所述在板测试装置，包括：PCB板，所述PCB板上设有若干个贯穿通孔，所述PCB板的上表面位于所述贯穿通孔的位置设有焊盘，所述PCB板的下表面位于所述贯穿通孔的位置设有锡球，所述焊盘与所述锡球导通，PCB...

本实用新型公开了一种可增加电源通流的PCB结构，其包括有PCB主体和设置于PCB主体表层的铜条，所述PCB主体内部设有电源走线层，所述铜条的两端与电源走线层的两端一一对应连接。上述的可增加电源通流的PCB结构，通过在PCB主体表层搭接铜...

本发明公开了一种在板测试结构及测试方法；所述在板测试结构，包括：PCB板，所述PCB板上设有若干个贯穿通孔，所述PCB板的上表面位于所述贯穿通孔的位置设有焊盘，所述PCB板的下表面位于所述贯穿通孔的位置设有锡球，焊盘与所述锡球导通，PC...