本实用新型涉及半导体器件技术领域，具体为一种半导体器件高效测试装置，包括安装板，所述安装板的下表面固定连接有支架，所述支架的内壁固定连接有收集盒，所述安装板的一侧安装有测试板，所述收集盒的内壁设有收集结构，所述收集结构包括抽盒，所述抽盒...

本实用新型公开了一种固态硬盘的高效测试装置，涉及固态硬盘测试设备领域，包括：定位板；连接仓，所述连接仓设置于所述定位板的一端。本实用新型通过设置连接机构，在将固态硬盘与连接器一端连接时可先将固态硬盘放置在放置板的顶部，此时固态硬盘的四角...

本实用新型公开了一种计算机内存条高稳定连接结构，涉及内存条技术领域，包括：底座；内存条，所述内存条设置在所述底座的顶端并延伸至所述底座的内部；防尘机构，防尘机构设置在所述底座顶部并套接于所述内存条的外部，用于对所述内存条进行防尘保护。本...

本实用新型公开了一种用于RFID终端的集成电路控制装置，涉及RFID终端技术领域，包括：控制装置主体；扫描窗口，所述扫描窗口设于所述控制装置主体的外壁一端；移动壳。本实用新型通过设置连接机构，实现拨动把杆带动限位块沿限位槽的内壁移动，并...

本发明提供了一种用于集成电路的半导体芯片测试方法，包括：识别待检测的半导体芯片，确定待检测的半导体芯片的识别信息；针对待检测的半导体芯片进行缺陷与故障测试，获得测试数据；将测试数据和缺陷与故障测试的指标进行对应匹配后与识别信息一同写入存...

本发明提供了一种接口集成电路及服务器，应用于包括管理器、控制芯片的服务器上，包括：控制模块、串口模块和连接模块；串口模块提供串行接口，与控制模块连接，用于通过串口连接外接设备；控制模块还与管理器和连接模块连接，用于根据连接外接设备的串口...