上海胤煌科技有限公司专利技术

上海胤煌科技有限公司共有17项专利

  • 本发明公开了一种用于流体观察的多通道液体检测观察装置,包括观察装置和检测装置,所述观察装置的右侧设有检测装置,观察装置的顶部设有水箱体,所述水箱体的顶部固定设有漏斗,漏斗的底部设有进液管,所述进液管的顶部设有密封板,所述观察装置的内部设...
  • 本实用新型公开了一种药品不溶性检测用显微镜法不溶性微粒仪,包括微粒仪外壳,所述微粒仪外壳包括外壳主连接板与外壳侧连接板,所述外壳主连接板的上端固定连接有控制面板,所述外壳主连接板的边侧开设有检测空腔,所述检测空腔的左侧螺纹连接有左螺纹杆...
  • 本实用新型公开了一种快速检测的光阻法粒度仪,包括粒度仪主体,所述粒度仪主体正面的左侧设有显示屏,所述显示屏的下方设有控制开关,所述粒度仪主体正面的右侧开设有凹口,所述凹口的内部设有检测器,所述检测器与凹口内壁通过固定架固定连接,所述检测...
  • 本实用新型公开了一种不溶性微粒检测用光阻法粒度仪,包括支架,所述支架的中部固定连接有固定夹具,所述固定夹具的内腔固定连接有激光器,所述支架的右侧焊接有横杆,所述横杆外圈的左侧固定连接有扩束镜,扩束镜能够改变激光光束直径和发散角,能够使得...
  • 本实用新型公开了一种可容纳多个样品的光阻法粒度仪,包括本体,所述本体的底部固定连接有底座,底座顶部的右侧设有显示屏,所述本体正面的底部贯穿开设有方槽,本体的底部设有样品池,样品池的底部固定连接有样品窗,样品窗底部的中部开设输出孔,所述本...
  • 本实用新型公开了一种可自动取样的激光粒度仪,包括外壳、取样装置、破碎腔、激光室、信号收集装置、测量室和数控结构,所述外壳的上方固定有取样装置和破碎腔,且破碎腔位于取样装置的一侧,所述外壳的内部安装有激光室和测量室,且测量室位于激光室的一...
  • 本实用新型公开了一种便于携带的图像法粒度仪,包括箱体,所述箱体的下端面固定安装有活动轮,所述箱体的上端面固定安装有把手一,所述箱体内部的低端固定安装有照明灯,所述箱体的内侧固定安装有扩束器,所述箱体内部的左右两侧开设有卡槽,所述卡槽的内...
  • 本实用新型公开了一种便于进样的激光粒度仪,包括外壳体,所述外壳体的内部包含有发射区、测试区、数据收集区,所述外壳体的一侧外表面上设置有混合气管。该便于进样的激光粒度仪,可以利用进料斗将需要检测的粉状物料倒入连通导料器的内部,然后导入布料...
  • 本实用新型公开了一种砂粒均匀的图像法粒度仪,包括粒度仪本体,所述粒度仪本体的下端固定连接有支撑腿,所述粒度仪本体上端的左侧固定连接有进料口,所述粒度仪本体内壁的左侧固定连接有高清摄像机,所述烘干室下端的中间位置固定连接有电子显微镜,所述...
  • 本实用新型公开了一种便于校准的激光粒度仪,包括检测箱体,所述检测箱体的边侧固定连接有触摸显示屏,所述检测箱体的下端固定连接有支撑底座,所述第一连接框的内部固定连接有第一凸透镜,所述转动轴的表面固定连接有照射灯,所述第二连接框、第三连接框...
  • 本实用新型公开了一种多样品池的激光粒度仪,包括外壳体,所述外壳体的内部设置有测试区,所述测试区的内部包含有第一样品池、第二样品池、第三样品池。该多样品池的激光粒度仪,可以通过导料管分别往三个相互独立的混合管内部导入粉状物料,接着通过气泵...
  • 本实用新型公开了一种用于清洁度检测的显微镜法不溶性微粒仪,包括微粒仪外壳,所述微粒仪外壳的下端面固定安装有底座,所述底座的下端固定安装有四个安装座一,所述安装座一的下端固定安装有吸盘,所述微粒仪外壳的上端面设置有保护罩,所述微粒仪外壳的...
  • 本实用新型公开了一种粒度粒形检测用图像法粒度仪,包括粒度仪外壳,所述粒度仪外壳的前端通过铰链活动安装有粒度仪密封门,所述粒度仪密封门的前端面固定安装有操作面板,所述粒度仪外壳的下端面固定安装有底座,所述底座的下端固定安装有四个安装座一。...
  • 本实用新型公开了一种带有三级压缩空气过滤装置的激光粒度仪,包括激光检测箱体和空气压缩箱体,所述激光检测箱体与空气压缩箱体通过伸缩风管连接。该带有三级压缩空气过滤装置的激光粒度仪,通过空气压缩箱体内部的气压缩机组通过进风口将外部空气吸入进...
  • 本实用新型公开了一种便于移动的激光粒度仪,包括箱体,所述箱体的左侧固定安装有把手,所述箱体的右侧固定安装有活动轮,所述箱体内部的下端面固定安装有安装架一,所述安装架一的上端面固定安装有激光仪,所述箱体内部的下端面固定安装有安装架二,所述...
  • 本实用新型公开了一种测量误差小的激光粒度仪,包括激光检测箱体,所述激光检测箱体的底部设置有固定脚架,且固定脚架与激光检测箱体通过螺钉连接,所述激光检测箱体的外侧设置有中心机盒,且中心机盒与激光检测箱体固定连接,所述中心机盒的外侧设置有操...
  • 本发明公开了一种光学图像法测量Zeta(ζ)电位及粒子尺寸的仪器,包括光学图像法测量仪外壳,其特征在于:所述光学图像法测量仪外壳的下端面固定安装有废料箱,所述废料箱的下端面固定安装有四个安装座,所述安装座的下端面固定安装有支柱,所述安装...
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