本发明提供一种静电放电测试结构、测试方法以及芯片，所述测试结构包括：静电放电保护器件与被保护器件，所述静电放电保护器件的正极与所述被保护器件的正极共同连接第二测试垫，所述静电放电保护器件的负极连接第一测试垫，所述被保护器件的负极连接第三...