本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种组合式探针检测头，包括探针座，探针座呈回字形结构，探针座的四个内壁分别向内延伸形成支撑块，探针座内部未被支撑块遮挡的空间形成卍字形通槽，支撑块的底面与探针座的底端平齐，支撑块的顶面为斜面，...

本实用新型涉及探针定位技术领域，公开了一种探针安装座，包括探针座本体，探针座本体呈回字形结构，探针座本体的四个内壁分别向内延伸形成支撑块，探针座本体内部未被支撑块遮挡的空间形成卍字形通槽，支撑块的底面与探针座本体底端平齐，支撑块的顶面为...

本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种晶元芯片检测头组件，包括线路板、连接套，线路板的中间部位设有定位通孔，连接套的一端延伸形成与定位通孔卡接的定位凸环，连接套的外端设有环形橡胶圈I、环形橡胶圈II，环形橡胶圈II的外侧设有环...

本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种基于探针的检测头结构，包括电路板、探针座，探针座的四个内壁分别向内延伸形成支撑块，探针座内部未被支撑块遮挡的空间形成卍字形通槽，支撑块的底面与探针座的底端平齐，支撑块的顶面从外端到内端向下...

本实用新型涉及检测工装技术领域，公开了一种晶元芯片检测工装，包括线路板、连接座，连接座的一端与线路板连接，连接座的另一端的两侧各设有一排测针，测针包括测针套、设在测针套内的可伸缩的测针头，测针套与连接座的端面之间通过胶水层连接，每个测针...

本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种晶元自动检测设备用探针定位夹具，包括连接套，连接套的一端设有连接法兰，连接套的另一端固定有定位胶套I，定位胶套I的外端面为外锥面，定位胶套I的外端面上还设有定位胶套II，定位胶套II的内端...

本实用新型涉及探针固定技术领域，公开了一种检测探针固定座，包括固定座本体，固定座本体内设有长槽孔，固定座本体一端的端面上位于长槽孔的两侧分别设有探针限位槽，固定座本体的另一端向外延伸形成连接环；固定座本体的两侧还设有连接孔；长槽孔的内壁...