本技术公开了一种晶圆测试设备用上料结构，本技术涉及晶圆测试技术领域，该晶圆测试设备用上料结构，包括放置组件，所述放置组件用于对待测试的晶圆进行放置；上料组件，所述上料组件设置有多个，多个所述上料组件呈圆周阵列方式分布，所述上料组件设置于...

本技术提供一种用于全自动探针台翘曲晶圆测试的按压辅助装置，涉及芯片生产装置技术领域，该装置包括连接臂、升降盘、驱动气缸；驱动气缸两侧分别设有导槽块，导槽块设有升降槽，升降槽内设有升降滑块，升降滑块滑动设置于升降槽内，升降滑块两端分别为连...