南京伟创电子有限公司专利技术

南京伟创电子有限公司共有2项专利

  • 本发明公开了一种降低红外锗单晶原生坑洞的方法,属于红外人工晶体技术领域,包括如下步骤:1)将一定量的清洗干净的区熔锗锭和质量为M的锑投入单晶炉并封炉,锑的掺杂量比计划掺杂量M多1%~20%;2)第一次抽真空,真空度10mtorr~50m...
  • 本发明公开了一种去除锗熔体表面浮渣的方法,属于晶体生长技术领域,包括如下步骤:1)将一定量的区熔锗锭投入洗料釜,然后向洗料釜注入去离子水覆盖住锗锭;2)加热直至70℃~100℃,向洗料釜加入氨水或胺类化合物中的任意一种或多种,浓度5%~...
1