本实用新型公开一种半导体器件用测试座，包括：PCB基板、至少一组左侧测试组片、至少一组右侧测试组片、左安装座和右安装座；所述左侧测试组片、右侧测试组片均由平行且竖直设置的第一测试片、第二测试片组成，且第一测试片、第二测试片之间具有绝缘层...

本实用新型公开一种用于半导体芯片的电性能检测装置，包括：PCB基板、至少一组左侧测试组片、至少一组右侧测试组片、左安装座和右安装座，所述左侧测试组片、右侧测试组片均由平行且竖直设置的第一测试片、第二测试片组成，且第一测试片、第二测试片之...