公开了一种用于物体的三维晶体颗粒取向映射的方法和系统。在不同的示例中，使用以不同角度与物体相互作用的子光束。其它选项包括在光栅扫描期间以不同角度摇摆物体。可以进行多次扫描，包括光栅扫描和定向分析。此外，可以采用不同的孔径。在示例中，添加...

一种用于控制X射线源的方法，包括产生用于撞击靶以产生X射线的电子束，以及使用沿飞行管分布的第一转向系统和第二转向系统将电子束转向至靶上的期望位置。以此方式，可将射束转向到期望位置，同时还穿过聚焦透镜的中心以维持最佳射束特性。扫描靶上方的...

提供了一种使用双重晶种的3D粒子分析和分离，属于多尺度材料分割方法，其对于小粒子和大粒子独立地创建标记物以识别特定粒子，然后单独处理这些标记物。后单独处理这些标记物。后单独处理这些标记物。

用于x射线CT系统的矿物表征方法包括生成样本的一个或更多个体积数据集，并基于仿真通过对数据集进行校正来识别样本中的相。这可以用于多色x射线仿真以及高度受控和良好规模化的分析重建的实施方式，以将已知成分的材料索引为重建灰度强度。该技术的应...

一种X射线矿物学分析系统包括用于X射线显微系统的样品组件。该样品组件包括外管和密封外管的内孔的底塞，其中外管容纳将由X射线显微系统分析的粉末。显微系统分析的粉末。显微系统分析的粉末。

在反射靶X射线源的操作期间，必须从许多组件中移除热。电子束必须被转向至靶并且可沿此路径与结构相互作用。在靶本身中也产生热。这可能是过量的，因为只有非常小百分比的电子束的能量被转换成X射线。最后，X射线必须通过窗离开真空，窗也可由X射线、...

X射线或带电粒子成像系统的检测系统利用高带隙、直接转换x射线检测材料。X射线/带电粒子投影的信号记录在例如液晶(LC)光阀的空间光调制器中。然后通过偏振光光学显微镜和高速相机读出光阀。相机用于跟踪光阀中的晕斑以分辨其强度，并关联输入的x...

提供一种X射线源。电子束通常在其产生后在到靶的路径上被动态地操纵。该操纵由一个或更多个源线圈执行。这些线圈在真空容器外产生磁场，允许空气/水/油冷却以移除不期望的热量。然后，在具有极片的真空容器内部拾取磁场，并且朝着需要磁场的区域引导磁...

一种X射线源，其具有靶组件、电子源和飞行管组件，靶组件包括靶，电子源用于产生撞击靶的电子，飞行管组件将靶组件与电子源分开并且将冷却剂输送到靶组件。飞行管组件包括飞行管接口环、靶筒管以及位于飞行管接口环与靶筒管之间的电隔离环。之间的电隔离...

X射线源包括光通信链路，以提供系统控制器和枪控制器之间的电流隔离的通信。在特定示例中，通过一根或更多根光纤提供链路。此外，枪控制器优选地在启动期间由系统控制器远程编程。这解决了在难以访问的位置/环境中重新编程处理器的问题。监视定时器对于...

一种x射线显微镜方法，通过结合图像处理在不同的材料相之间进行区分，从而获得不同颗粒的分类，其中图像处理包括形态学边缘增强和相之间可能分辨的吸收衬度差异以及可选的小波滤波。波滤波。波滤波。

一种用于X射线显微镜系统的检测系统利用高带隙、直接转换X射线检测材料。X射线投影的信号被记录在诸如液晶(LC)光阀等的空间光调制器中。然后通过偏振光光学显微镜读出光阀。这种配置将减轻在当前闪烁体‑光学显微镜‑相机检测系统上的光学系统中的...

本发明涉及用于X射线CT显微镜的避碰系统和方法，其处理对象在不同角度的图像数据并生成该对象的模型。该模型则用于配置显微镜进行操作，并能避免显微镜与对象之间发生碰撞。并能避免显微镜与对象之间发生碰撞。并能避免显微镜与对象之间发生碰撞。